用于带电粒子显微镜的保护快门

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申请号
CN202210696423.6
申请日
2022-06-20
公开(公告)号
CN115579271A
公开(公告)日
2023-01-06
发明(设计)人
P·布伦达奇
申请人
申请人地址
美国俄勒冈州
IPC主分类号
H01J3702
IPC分类号
H01J3726
代理机构
中国专利代理(香港)有限公司 72001
代理人
张凌苗;周学斌
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
带电粒子线显微镜以及该带电粒子显微镜的控制方法 [P]. 
千野肇 ;
绵引胜 ;
岩谷彻 .
中国专利 :CN102668014A ,2012-09-12
[2]
具有带电粒子检测器的带电粒子显微镜 [P]. 
E·弗兰肯 ;
T·瓦斯洛特 ;
B·詹森 .
美国专利 :CN120809561A ,2025-10-17
[3]
用于检查标本的带电粒子显微镜和确定所述带电粒子显微镜的像差的方法 [P]. 
L.图玛 .
美国专利 :CN111243928B ,2025-07-29
[4]
用于检查标本的带电粒子显微镜和确定所述带电粒子显微镜的像差的方法 [P]. 
L.图玛 .
中国专利 :CN111243928A ,2020-06-05
[5]
用于带电粒子显微镜的样品保持器 [P]. 
M.P.W.范登博嘉尔德 ;
M.拉格朗日 ;
N.H.罗德里格斯 .
中国专利 :CN111599662A ,2020-08-28
[6]
用于带电粒子显微镜的样品保持器 [P]. 
M.P.W.范登博嘉尔德 ;
M.拉格朗日 ;
N.H.罗德里格斯 .
美国专利 :CN111599662B ,2025-01-03
[7]
显微镜系统和操作带电粒子显微镜的方法 [P]. 
S·比恩 ;
R·罗兰 ;
S·希斯 .
中国专利 :CN102543638B ,2012-07-04
[8]
扫描带电粒子显微镜图像的高画质化方法和扫描带电粒子显微镜装置 [P]. 
中平健治 ;
田中麻纪 .
中国专利 :CN105981129A ,2016-09-28
[9]
用于带电粒子显微镜的低温样本的制备 [P]. 
H-W.雷米格伊 .
中国专利 :CN106872500B ,2017-06-20
[10]
用于带电粒子显微镜操作的大语言模型辅助 [P]. 
R·扬奇克 ;
O·马彻克 ;
R·H·M·舍恩梅克斯 .
美国专利 :CN120948832A ,2025-11-14