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一种片式电阻用温度测试装置
被引:0
申请号
:
CN202221194672.7
申请日
:
2022-05-18
公开(公告)号
:
CN218014238U
公开(公告)日
:
2022-12-13
发明(设计)人
:
丁有群
申请人
:
申请人地址
:
223300 江苏省淮安市淮阴区松江路71号
IPC主分类号
:
B07C534
IPC分类号
:
B07C538
代理机构
:
江苏长德知识产权代理有限公司 32478
代理人
:
冯娟
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-12-13
授权
授权
共 50 条
[1]
片式薄膜电阻温度特性测试装置
[P].
张青
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张青
;
李吉云
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李吉云
;
韩玉成
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
韩玉成
.
中国专利
:CN203164325U
,2013-08-28
[2]
一种片式电阻辅助测试装置
[P].
郑潇潇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
湖北航天技术研究院计量测试技术研究所
湖北航天技术研究院计量测试技术研究所
郑潇潇
;
何丹
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
湖北航天技术研究院计量测试技术研究所
湖北航天技术研究院计量测试技术研究所
何丹
;
龚恒
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
湖北航天技术研究院计量测试技术研究所
湖北航天技术研究院计量测试技术研究所
龚恒
;
贺颖颖
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
湖北航天技术研究院计量测试技术研究所
湖北航天技术研究院计量测试技术研究所
贺颖颖
;
孔令楠
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
湖北航天技术研究院计量测试技术研究所
湖北航天技术研究院计量测试技术研究所
孔令楠
;
李青松
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
湖北航天技术研究院计量测试技术研究所
湖北航天技术研究院计量测试技术研究所
李青松
;
陈艺泽
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
湖北航天技术研究院计量测试技术研究所
湖北航天技术研究院计量测试技术研究所
陈艺泽
;
桂雪薇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
湖北航天技术研究院计量测试技术研究所
湖北航天技术研究院计量测试技术研究所
桂雪薇
;
王娟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
湖北航天技术研究院计量测试技术研究所
湖北航天技术研究院计量测试技术研究所
王娟
.
中国专利
:CN223272609U
,2025-08-26
[3]
一种片式电阻器温度测试装置
[P].
赵君
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
赵君
;
卢金生
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
卢金生
;
邱天娇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
邱天娇
.
中国专利
:CN210585946U
,2020-05-22
[4]
贴片式电阻温度特性测试装置
[P].
杨胜艾
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨胜艾
;
谢强
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
谢强
;
李吉云
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李吉云
;
栗小帆
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
栗小帆
;
金矛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
金矛
;
嵩旅罗
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
嵩旅罗
.
中国专利
:CN201392374Y
,2010-01-27
[5]
一种雾化芯电阻测试装置
[P].
饶俊华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
饶俊华
.
中国专利
:CN210604787U
,2020-05-22
[6]
一种电阻测试装置
[P].
林思敏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
林思敏
;
张兴瀚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张兴瀚
;
韩胜利
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
韩胜利
;
黄海清
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
黄海清
;
陈世龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈世龙
;
张洋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张洋
.
中国专利
:CN218037060U
,2022-12-13
[7]
一种电阻测试装置
[P].
程德山
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市日图科技有限公司
深圳市日图科技有限公司
程德山
;
纪建伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市日图科技有限公司
深圳市日图科技有限公司
纪建伟
;
孙付成
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市日图科技有限公司
深圳市日图科技有限公司
孙付成
;
齐健刚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市日图科技有限公司
深圳市日图科技有限公司
齐健刚
;
谢晋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市日图科技有限公司
深圳市日图科技有限公司
谢晋
.
中国专利
:CN222280668U
,2024-12-31
[8]
一种电阻测试装置
[P].
屈敏东
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浙江中认检测技术有限公司
浙江中认检测技术有限公司
屈敏东
;
刘妙玲
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浙江中认检测技术有限公司
浙江中认检测技术有限公司
刘妙玲
;
刘珊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浙江中认检测技术有限公司
浙江中认检测技术有限公司
刘珊
;
田海泉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浙江中认检测技术有限公司
浙江中认检测技术有限公司
田海泉
;
刘俊炜
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浙江中认检测技术有限公司
浙江中认检测技术有限公司
刘俊炜
;
刘媚媚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浙江中认检测技术有限公司
浙江中认检测技术有限公司
刘媚媚
.
中国专利
:CN222896217U
,2025-05-23
[9]
一种叠层片式压敏电阻排用测试装置
[P].
成学军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
成学军
;
贾广平
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
贾广平
;
邵庆云
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
邵庆云
;
师习恩
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
师习恩
.
中国专利
:CN202066941U
,2011-12-07
[10]
一种片式薄膜电阻器的温度测试装置
[P].
范广震
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
范广震
.
中国专利
:CN207637565U
,2018-07-20
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