片式薄膜电阻温度特性测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201320086297.9

申请日：

2013-02-02

公开(公告)号：

CN203164325U

公开(公告)日：

2013-08-28

发明(设计)人：

张青李吉云韩玉成

申请人：

申请人地址：

550000 贵州省贵阳市新添大道北段268号附1号

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

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法律状态：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-08-28	授权	授权
2021-01-15	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/00 申请日:20130202 授权公告日:20130828 终止日期:20200202

共 50 条

[1]

贴片式电阻温度特性测试装置 [P].

杨胜艾 ;

谢强 ;

李吉云 ;

栗小帆 ;

金矛 ;

嵩旅罗 .

中国专利 :CN201392374Y ,2010-01-27

[2]

一种电阻温度特性测试装置 [P].

张进峰 .

中国专利 :CN204575746U ,2015-08-19

[3]

一种片式电阻用温度测试装置 [P].

丁有群 .

中国专利 :CN218014238U ,2022-12-13

[4]

一种电阻温度特性测试装置 [P].

张进峰 .

中国专利 :CN104698281A ,2015-06-10

[5]

一种片式薄膜电阻器的温度测试装置 [P].

范广震 .

中国专利 :CN207637565U ,2018-07-20

[6]

一种电阻特性检测测试装置 [P].

张天仁 .

中国专利 :CN217954565U ,2022-12-02

[7]

一种片式电阻器温度测试装置 [P].

赵君 ;

卢金生 ;

邱天娇 .

中国专利 :CN210585946U ,2020-05-22

[8]

一种薄膜电阻测试装置 [P].

董学忠 ;

方伟峰 ;

文娟·刘·麦蒂斯 .

中国专利 :CN209542813U ,2019-10-25

[9]

TFT-LCD温度特性测试装置 [P].

张睿鹏 ;

兰强 ;

张航 ;

金琪程 .

中国专利 :CN209802632U ,2019-12-17

[10]

温控器温度特性测试装置 [P].

李伊水 .

中国专利 :CN208384418U ,2019-01-15

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