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一种薄膜电阻测试装置
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201822251318.3
申请日：
2018-12-29
公开(公告)号：
CN209542813U
公开(公告)日：
2019-10-25
发明(设计)人：
董学忠
方伟峰
文娟·刘·麦蒂斯
申请人：
申请人地址：
313000 浙江省湖州市湖州经济技术开发区红丰路2198号
IPC主分类号：
G01R31389
IPC分类号：
代理机构：
代理人：
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2019-10-25 | 授权 | 授权 |