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多功能晶体管测试仪
被引:0
申请号
:
CN202230657505.0
申请日
:
2022-10-09
公开(公告)号
:
CN307797079S
公开(公告)日
:
2023-01-17
发明(设计)人
:
请求不公布姓名
申请人
:
申请人地址
:
361022 福建省厦门市集美区杏林董任西路3号
IPC主分类号
:
1004
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2023-01-17
授权
授权
共 50 条
[1]
多功能阻容晶体管测试仪
[P].
廖文丹
论文数:
0
引用数:
0
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0
廖文丹
.
中国专利
:CN307678592S
,2022-11-22
[2]
多功能晶体管测试仪
[P].
汪建
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0
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0
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0
汪建
.
中国专利
:CN205787001U
,2016-12-07
[3]
晶体管测试仪
[P].
张文华
论文数:
0
引用数:
0
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0
张文华
.
中国专利
:CN303561761S
,2016-01-20
[4]
晶体管测试仪
[P].
杜树鑫
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0
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0
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0
杜树鑫
.
中国专利
:CN2757145Y
,2006-02-08
[5]
晶体管测试仪
[P].
周敏
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0
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0
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0
周敏
;
方小峰
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0
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0
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0
方小峰
.
中国专利
:CN304880381S
,2018-11-06
[6]
多功能集成电路IC晶体管测试仪
[P].
王文志
论文数:
0
引用数:
0
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0
王文志
.
中国专利
:CN303646520S
,2016-04-20
[7]
晶体管特性测试仪
[P].
汪建
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0
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0
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0
汪建
;
杨橙
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0
杨橙
;
王倩
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0
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0
王倩
;
向烊
论文数:
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0
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0
向烊
.
中国专利
:CN205787000U
,2016-12-07
[8]
晶体管在线测试仪
[P].
赵雷
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0
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0
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0
赵雷
.
中国专利
:CN85202412U
,1987-02-25
[9]
一种晶体管测试仪
[P].
邓伟
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0
引用数:
0
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机构:
深圳智芯源半导体有限公司
深圳智芯源半导体有限公司
邓伟
.
中国专利
:CN222167158U
,2024-12-13
[10]
晶体管综合参数测试仪
[P].
崔本柱
论文数:
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崔本柱
.
中国专利
:CN2303306Y
,1999-01-06
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