多功能集成电路IC晶体管测试仪

被引：0

专利类型：

外观设计

申请号：

CN201530450717.1

申请日：

2015-11-12

公开(公告)号：

CN303646520S

公开(公告)日：

2016-04-20

发明(设计)人：

王文志

申请人：

申请人地址：

065201 河北省廊坊市三河市燕郊开发区燕顺路金桥嘉园3栋

IPC主分类号：

1005

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-10-26	专利权的终止	未缴年费专利权终止主分类号:10-05 申请日:20151112 授权公告日:20160420 终止日期:20201112
2016-04-20	授权	授权

共 50 条

[1]

多功能晶体管测试仪 [P].

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN307797079S ,2023-01-17

[2]

多功能阻容晶体管测试仪 [P].

廖文丹 .

中国专利 :CN307678592S ,2022-11-22

[3]

多功能晶体管测试仪 [P].

汪建 .

中国专利 :CN205787001U ,2016-12-07

[4]

集成电路测试仪 [P].

徐流鑫 ;

石培杰 ;

姚健 .

中国专利 :CN306348865S ,2021-02-26

[5]

集成电路测试仪 [P].

栗念龙 .

中国专利 :CN302381793S ,2013-04-03

[6]

晶体管测试仪 [P].

张文华 .

中国专利 :CN303561761S ,2016-01-20

[7]

晶体管测试仪 [P].

周敏 ;

方小峰 .

中国专利 :CN304880381S ,2018-11-06

[8]

晶体管测试仪 [P].

杜树鑫 .

中国专利 :CN2757145Y ,2006-02-08

[9]

集成电路测试仪 [P].

阎捷 ;

高文焕 ;

徐振英 ;

张尊侨 ;

金平 ;

田淑珍 ;

刘艳 ;

任艳频 ;

侯素芳 ;

任勇 .

中国专利 :CN201035124Y ,2008-03-12

[10]

集成电路功能测试仪 [P].

徐瑞 ;

姜占鹏 ;

郭红 .

中国专利 :CN203337779U ,2013-12-11

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