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杂散光测量装置及方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202110882670.0
申请日
:
2021-08-02
公开(公告)号
:
CN113701676B
公开(公告)日
:
2021-11-26
发明(设计)人
:
谈宜东
田明旺
徐欣
申请人
:
申请人地址
:
100084 北京市海淀区清华园
IPC主分类号
:
G01B1130
IPC分类号
:
代理机构
:
北京华进京联知识产权代理有限公司 11606
代理人
:
马云超
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-11-26
公开
公开
2022-11-25
授权
授权
2021-12-14
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/30 申请日:20210802
共 50 条
[1]
杂散光测量装置及方法
[P].
谈宜东
论文数:
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谈宜东
;
田明旺
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田明旺
;
徐欣
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0
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徐欣
.
中国专利
:CN113701675B
,2021-11-26
[2]
杂散光测量装置及其测量方法、杂散光测量系统
[P].
牛钧杰
论文数:
0
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0
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机构:
上海微电子装备(集团)股份有限公司
上海微电子装备(集团)股份有限公司
牛钧杰
.
中国专利
:CN115268219B
,2025-03-14
[3]
一种杂散光测量装置
[P].
于清华
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于清华
;
孙胜利
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孙胜利
.
中国专利
:CN204679245U
,2015-09-30
[4]
一种杂散光测量装置和测量方法
[P].
于清华
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于清华
;
孙胜利
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孙胜利
.
中国专利
:CN104865048A
,2015-08-26
[5]
光波导侧壁杂散光测量装置及测量方法
[P].
程广壮
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机构:
歌尔光学科技(上海)有限公司
歌尔光学科技(上海)有限公司
程广壮
;
金成滨
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机构:
歌尔光学科技(上海)有限公司
歌尔光学科技(上海)有限公司
金成滨
;
魏如东
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机构:
歌尔光学科技(上海)有限公司
歌尔光学科技(上海)有限公司
魏如东
;
朱春霖
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机构:
歌尔光学科技(上海)有限公司
歌尔光学科技(上海)有限公司
朱春霖
;
董立超
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机构:
歌尔光学科技(上海)有限公司
歌尔光学科技(上海)有限公司
董立超
;
吾晓
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机构:
歌尔光学科技(上海)有限公司
歌尔光学科技(上海)有限公司
吾晓
.
中国专利
:CN119803864A
,2025-04-11
[6]
一种杂散光测量装置及测量方法
[P].
孙昊
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孙昊
;
葛亮
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葛亮
.
中国专利
:CN106154761A
,2016-11-23
[7]
内掩式日冕仪杂散光测量系统及测量方法
[P].
刘大洋
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刘大洋
;
孙明哲
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孙明哲
;
夏利东
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夏利东
;
于晓雨
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于晓雨
;
唐宁
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唐宁
;
刘维新
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刘维新
;
韩建平
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韩建平
.
中国专利
:CN115452334A
,2022-12-09
[8]
一种用于成像光谱仪的杂散光测量装置及杂散光校正方法
[P].
张权
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机构:
中国科学院合肥物质科学研究院
中国科学院合肥物质科学研究院
张权
;
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机构:
王鑫蕊
;
论文数:
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机构:
李新
;
石远见
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机构:
中国科学院合肥物质科学研究院
中国科学院合肥物质科学研究院
石远见
;
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机构:
郑小兵
.
中国专利
:CN119290158A
,2025-01-10
[9]
一种用于成像光谱仪的杂散光测量装置及杂散光校正方法
[P].
张权
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机构:
中国科学院合肥物质科学研究院
中国科学院合肥物质科学研究院
张权
;
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机构:
王鑫蕊
;
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机构:
李新
;
石远见
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机构:
中国科学院合肥物质科学研究院
中国科学院合肥物质科学研究院
石远见
;
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机构:
郑小兵
.
中国专利
:CN119290158B
,2025-10-31
[10]
一种激光杂散光测量装置
[P].
梁樾
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梁樾
;
靳赛
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靳赛
;
赵军普
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赵军普
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赵润昌
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赵润昌
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李森
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李森
;
李天恩
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李天恩
;
李志军
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李志军
.
中国专利
:CN208239052U
,2018-12-14
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