杂散光测量装置及方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202110882670.0
申请日
2021-08-02
公开(公告)号
CN113701676B
公开(公告)日
2021-11-26
发明(设计)人
谈宜东 田明旺 徐欣
申请人
申请人地址
100084 北京市海淀区清华园
IPC主分类号
G01B1130
IPC分类号
代理机构
北京华进京联知识产权代理有限公司 11606
代理人
马云超
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
杂散光测量装置及方法 [P]. 
谈宜东 ;
田明旺 ;
徐欣 .
中国专利 :CN113701675B ,2021-11-26
[2]
杂散光测量装置及其测量方法、杂散光测量系统 [P]. 
牛钧杰 .
中国专利 :CN115268219B ,2025-03-14
[3]
一种杂散光测量装置 [P]. 
于清华 ;
孙胜利 .
中国专利 :CN204679245U ,2015-09-30
[4]
一种杂散光测量装置和测量方法 [P]. 
于清华 ;
孙胜利 .
中国专利 :CN104865048A ,2015-08-26
[5]
光波导侧壁杂散光测量装置及测量方法 [P]. 
程广壮 ;
金成滨 ;
魏如东 ;
朱春霖 ;
董立超 ;
吾晓 .
中国专利 :CN119803864A ,2025-04-11
[6]
一种杂散光测量装置及测量方法 [P]. 
孙昊 ;
葛亮 .
中国专利 :CN106154761A ,2016-11-23
[7]
内掩式日冕仪杂散光测量系统及测量方法 [P]. 
刘大洋 ;
孙明哲 ;
夏利东 ;
于晓雨 ;
唐宁 ;
刘维新 ;
韩建平 .
中国专利 :CN115452334A ,2022-12-09
[8]
一种用于成像光谱仪的杂散光测量装置及杂散光校正方法 [P]. 
张权 ;
王鑫蕊 ;
李新 ;
石远见 ;
郑小兵 .
中国专利 :CN119290158A ,2025-01-10
[9]
一种用于成像光谱仪的杂散光测量装置及杂散光校正方法 [P]. 
张权 ;
王鑫蕊 ;
李新 ;
石远见 ;
郑小兵 .
中国专利 :CN119290158B ,2025-10-31
[10]
一种激光杂散光测量装置 [P]. 
梁樾 ;
靳赛 ;
赵军普 ;
赵润昌 ;
李森 ;
李天恩 ;
李志军 .
中国专利 :CN208239052U ,2018-12-14