一种用于电阻老化实验的测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201922049507.7

申请日：

2019-11-25

公开(公告)号：

CN211979064U

公开(公告)日：

2020-11-20

发明(设计)人：

黄正信刘复强姚元钦李钦举孙长磊

申请人：

申请人地址：

226300 江苏省南通市通州区希望大道与康富路交叉口789号

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

代理机构：

南京纵横知识产权代理有限公司 32224

代理人：

董建林

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-11-20	授权	授权

共 50 条

[1]

一种沥青紫外老化实验测试装置 [P].

甘新立 ;

段绍帆 ;

蒙嘉璐 ;

白洋 ;

冯锦 ;

杨武 .

中国专利 :CN215493041U ,2022-01-11

[2]

一种电阻老化测试装置 [P].

涂振坤 .

中国专利 :CN212060453U ,2020-12-01

[3]

一种磁无极紫外灯老化实验测试装置 [P].

王磊 ;

李星桥 ;

周健 .

中国专利 :CN206523291U ,2017-09-26

[4]

一种用于热态电阻测试的实验装置 [P].

黄干 .

中国专利 :CN208588785U ,2019-03-08

[5]

一种模拟实验测试装置 [P].

雷冰 ;

彭明潇 ;

李葵娇 ;

胡胜楠 ;

孟国哲 ;

李伟华 .

中国专利 :CN212780337U ,2021-03-23

[6]

一种用于绝缘电阻的测试装置 [P].

黎健南 ;

谢儒铭 ;

赵香芳 ;

王通 ;

吴祥任 .

中国专利 :CN210142144U ,2020-03-13

[7]

一种用于老化测试机台的老化板背面测试装置 [P].

朱勇 ;

郑翠华 ;

李广辉 .

中国专利 :CN213337894U ,2021-06-01

[8]

一种用于测试RFID天线电阻的测试装置 [P].

李杏明 ;

徐明亮 .

中国专利 :CN204439719U ,2015-07-01

[9]

一种老化测试装置 [P].

邝世程 .

中国专利 :CN217846391U ,2022-11-18

[10]

一种老化测试装置 [P].

陈楚江 .

中国专利 :CN221803963U ,2024-10-01

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