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一种用于老化测试机台的老化板背面测试装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202021251773.4
申请日
:
2020-07-01
公开(公告)号
:
CN213337894U
公开(公告)日
:
2021-06-01
发明(设计)人
:
朱勇
郑翠华
李广辉
申请人
:
申请人地址
:
201100 上海市闵行区友东路258-288号2幢101室
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
G01R104
代理机构
:
上海海钧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31330
代理人
:
姜波
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-06-01
授权
授权
共 50 条
[1]
一种具有老化板背面测试功能的老化测试机台
[P].
朱勇
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朱勇
;
魏垂亚
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魏垂亚
;
邱旸
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邱旸
.
中国专利
:CN212658791U
,2021-03-05
[2]
老化测试装置、老化测试治板及老化测试机柜
[P].
苏涛
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苏涛
;
李正
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李正
;
王斌
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王斌
;
蒋汉柏
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蒋汉柏
;
郭敏
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郭敏
.
中国专利
:CN216209559U
,2022-04-05
[3]
芯片老化测试机台
[P].
何俊明
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机构:
真贺科技(江苏)有限公司
真贺科技(江苏)有限公司
何俊明
;
李金普
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机构:
真贺科技(江苏)有限公司
真贺科技(江苏)有限公司
李金普
;
尤力
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机构:
真贺科技(江苏)有限公司
真贺科技(江苏)有限公司
尤力
;
曹梓晏
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机构:
真贺科技(江苏)有限公司
真贺科技(江苏)有限公司
曹梓晏
.
中国专利
:CN308951423S
,2024-11-19
[4]
老化测试机构和老化测试装置
[P].
杜伟涛
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杜伟涛
.
中国专利
:CN218099390U
,2022-12-20
[5]
一种老化测试机台、改造方法及老化测试方法
[P].
朱勇
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机构:
上海季丰电子股份有限公司
上海季丰电子股份有限公司
朱勇
;
陈参参
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机构:
上海季丰电子股份有限公司
上海季丰电子股份有限公司
陈参参
;
李晓龙
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机构:
上海季丰电子股份有限公司
上海季丰电子股份有限公司
李晓龙
.
中国专利
:CN111650497B
,2025-03-28
[6]
一种老化测试机台、改造方法及老化测试方法
[P].
朱勇
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朱勇
;
陈参参
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陈参参
;
李晓龙
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李晓龙
.
中国专利
:CN111650497A
,2020-09-11
[7]
一种MTK板的老化测试装置及屏幕老化测试装置
[P].
颜志军
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颜志军
;
文瑜龙
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文瑜龙
;
黄穗杰
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黄穗杰
.
中国专利
:CN215526032U
,2022-01-14
[8]
测试机台及测试装置
[P].
孙东领
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孙东领
;
曲博文
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曲博文
;
权宁万
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权宁万
.
中国专利
:CN105204199A
,2015-12-30
[9]
测试装置以及测试机台
[P].
林林
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林林
;
林世明
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林世明
;
王文宏
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王文宏
.
中国专利
:CN102235951A
,2011-11-09
[10]
一种PCB板老化测试装置
[P].
刘海涛
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机构:
深圳市晟锦威电子科技有限公司
深圳市晟锦威电子科技有限公司
刘海涛
;
张耀宏
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机构:
深圳市晟锦威电子科技有限公司
深圳市晟锦威电子科技有限公司
张耀宏
.
中国专利
:CN221239036U
,2024-06-28
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