一种老化测试机台、改造方法及老化测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010616705.1

申请日：

2020-07-01

公开(公告)号：

CN111650497B

公开(公告)日：

2025-03-28

发明(设计)人：

朱勇陈参参李晓龙

申请人：

上海季丰电子股份有限公司

申请人地址：

201100 上海市闵行区友东路258-288号2幢101室

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

代理机构：

上海海钧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31330

代理人：

姜波

法律状态：

授权

国省代码：

上海市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-03-28	授权	授权

共 50 条

[1]

一种老化测试机台、改造方法及老化测试方法 [P].

朱勇 ;

陈参参 ;

李晓龙 .

中国专利 :CN111650497A ,2020-09-11

[2]

芯片老化测试机台 [P].

何俊明 ;

李金普 ;

尤力 ;

曹梓晏 .

中国专利 :CN308951423S ,2024-11-19

[3]

一种具有老化板背面测试功能的老化测试机台 [P].

朱勇 ;

魏垂亚 ;

邱旸 .

中国专利 :CN212658791U ,2021-03-05

[4]

老化测试机及老化测试系统 [P].

刘超 .

中国专利 :CN207215920U ,2018-04-10

[5]

一种用于老化测试机台的老化板背面测试装置 [P].

朱勇 ;

郑翠华 ;

李广辉 .

中国专利 :CN213337894U ,2021-06-01

[6]

老化测试机 [P].

贾瑞宗 ;

双超军 ;

李文浩 ;

程培鑫 ;

吴志豪 .

中国专利 :CN223450064U ,2025-10-17

[7]

产品老化测试机结构及测试方法 [P].

王仕初 ;

刘涛 ;

梁关华 .

中国专利 :CN112731015A ,2021-04-30

[8]

老化测试电路、老化测试系统及老化测试方法 [P].

郝懿 .

中国专利 :CN114660379A ,2022-06-24

[9]

老化测试电路、老化测试系统及老化测试方法 [P].

郝懿 .

中国专利 :CN114660379B ,2025-02-11

[10]

老化测试装置、老化测试治板及老化测试机柜 [P].

苏涛 ;

李正 ;

王斌 ;

蒋汉柏 ;

郭敏 .

中国专利 :CN216209559U ,2022-04-05

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