指纹芯片按压模拟测试装置及测试方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201710751661.1
申请日
2017-08-28
公开(公告)号
CN107632214A
公开(公告)日
2018-01-26
发明(设计)人
刘治震 鲍军其 冯雨周
申请人
申请人地址
310000 浙江省杭州市滨江区江淑路799号第一、第二全楼层和第三、四、五层A单元
IPC主分类号
G01R3100
IPC分类号
代理机构
杭州杭诚专利事务所有限公司 33109
代理人
尉伟敏
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
指纹芯片按压模拟测试装置 [P]. 
刘治震 ;
鲍军其 ;
冯雨周 .
中国专利 :CN207268745U ,2018-04-24
[2]
指纹芯片测试装置及测试方法 [P]. 
鲍军其 ;
刘治震 .
中国专利 :CN107677950A ,2018-02-09
[3]
指纹芯片测试装置 [P]. 
鲍军其 ;
刘治震 .
中国专利 :CN207268768U ,2018-04-24
[4]
指纹芯片模拟测试装置 [P]. 
施元军 ;
刘凯 .
中国专利 :CN206657086U ,2017-11-21
[5]
指纹芯片测试机构及指纹芯片测试装置 [P]. 
刘活 ;
韦敏荣 ;
孔晓琳 ;
王健 ;
刘伟 ;
李安平 .
中国专利 :CN218003644U ,2022-12-09
[6]
指纹芯片测试装置 [P]. 
张永钢 ;
张迎港 ;
孙万龙 ;
李长春 .
中国专利 :CN117368695A ,2024-01-09
[7]
芯片测试头、芯片测试装置及测试方法 [P]. 
刘浩 ;
李亮 ;
肖裕权 .
中国专利 :CN107454938B ,2017-12-08
[8]
指纹芯片测试装置 [P]. 
林小龙 .
中国专利 :CN207249056U ,2018-04-17
[9]
高精度指纹芯片测试装置 [P]. 
陈东 ;
王海昌 ;
陈松 ;
姚燕杰 ;
王凯 ;
姜海光 .
中国专利 :CN208044016U ,2018-11-02
[10]
芯片测试方法及芯片测试装置 [P]. 
高伟 ;
孙文琪 .
中国专利 :CN118838765A ,2024-10-25