参考单元阈值电压的调整方法、装置和测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201010244481.2

申请日：

2010-08-03

公开(公告)号：

CN102347084B

公开(公告)日：

2012-02-08

发明(设计)人：

苏志强舒清明

申请人：

申请人地址：

100083 北京市海淀区学院路30号科大天工大厦A座12层

IPC主分类号：

G11C2956

IPC分类号：

代理机构：

北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319

代理人：

苏培华

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2012-03-21	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101208117811 IPC(主分类):G11C 29/56 专利申请号:2010102444812 申请日:20100803
2022-09-16	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G11C 29/56 变更事项:专利权人变更前:北京兆易创新科技股份有限公司变更后:兆易创新科技集团股份有限公司变更事项:地址变更前:100083 北京市海淀区学院路30号科大天工大厦A座12层变更后:100094 北京市海淀区丰豪东路9号院8号楼1至5层101
2013-06-05	著录事项变更	著录事项变更号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101603604870 IPC(主分类):G11C 29/56 专利申请号:2010102444812 变更事项:申请人变更前:北京兆易创新科技有限公司变更后:北京兆易创新科技股份有限公司变更事项:地址变更前:100084 北京市海淀区清华大学学研大厦B301室变更后:100083 北京市海淀区学院路30号科大天工大厦A座12层
2014-05-07	授权	授权
2012-02-08	公开	公开

共 50 条

[1]

阈值电压调整装置和阈值电压调整方法 [P].

安友伟 ;

万碧根 ;

马亮 ;

张登军 ;

刘大海 .

中国专利 :CN112017701B ,2020-12-01

[2]

阈值电压测试方法及阈值电压测试系统和可读存储介质 [P].

陈洋洋 ;

孙丹萍 .

中国专利 :CN121008156A ,2025-11-25

[3]

阈值电压漂移跟踪系统和方法 [P].

H·吉杜图里 .

中国专利 :CN114333955A ,2022-04-12

[4]

阈值电压漂移检测方法和阈值电压漂移检测装置 [P].

李广耀 ;

王东方 ;

汪军 ;

王海涛 ;

郝朝威 ;

冯波 ;

刘融 ;

蔡伟 ;

罗标 ;

孙学超 ;

桂学海 ;

梁启斌 ;

万燕飞 ;

苏瑾 .

中国专利 :CN110111712A ,2019-08-09

[5]

一种调整参考单元阈值参数的方法、装置和一种测试系统 [P].

胡洪 ;

韩飞 .

中国专利 :CN101859606B ,2010-10-13

[6]

NROM单元中的阈值电压偏移 [P].

埃利·卢斯基 .

中国专利 :CN1862704A ,2006-11-15

[7]

用于稳定单元阈值电压的系统及方法 [P].

P·阿马托 ;

M·斯福尔津 .

中国专利 :CN114746945A ,2022-07-12

[8]

存储器目标阈值电压的测试方法和测试装置 [P].

王雄 ;

刘峻 ;

杨海波 ;

付志成 ;

程阳 .

中国专利 :CN118398065A ,2024-07-26

[9]

恢复存储器单元阈值电压 [P].

杨玲明 ;

N·加杰拉 ;

K·萨尔帕特瓦里 .

中国专利 :CN114651308A ,2022-06-21

[10]

调整半导体器件阈值电压的方法 [P].

尹海洲 ;

骆志炯 ;

朱慧珑 .

中国专利 :CN102110613A ,2011-06-29

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