存储装置和减少测试针脚装置及其测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200710001923.9

申请日：

2007-01-15

公开(公告)号：

CN101226777B

公开(公告)日：

2008-07-23

发明(设计)人：

孔繁生

申请人：

申请人地址：

中国台湾新竹科学工业园区

IPC主分类号：

G11C2944

IPC分类号：

代理机构：

北京三友知识产权代理有限公司 11127

代理人：

任默闻

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2011-10-26	授权	授权
2008-09-17	实质审查的生效	实质审查的生效
2008-07-23	公开	公开

共 50 条

[1]

存储装置及其测试方法 [P].

吴祥煌 ;

李日农 .

中国专利 :CN101615433B ,2009-12-30

[2]

存储装置和测试存储装置的方法 [P].

金源喆 ;

崔载奎 ;

金泰龙 ;

朴智源 .

韩国专利 :CN120319296A ,2025-07-15

[3]

测试针脚连接结构 [P].

张志刚 ;

赵志龙 ;

徐顺士 ;

郭红军 .

中国专利 :CN208383938U ,2019-01-15

[4]

存储装置及其测试方法 [P].

尼尔·塔莎 ;

厄瑞·卡路兹尼 ;

查奇·维瑟 ;

瓦勒利·特波 .

中国专利 :CN105469835B ,2016-04-06

[5]

存储装置测试系统及存储装置测试方法 [P].

游嘉伟 .

中国专利 :CN111698362A ,2020-09-22

[6]

存储器存储装置及其测试方法 [P].

周诠胜 ;

林孟弘 ;

吴伯伦 ;

何家骅 .

中国专利 :CN109147860A ,2019-01-04

[7]

存储装置测试方法及存储装置测试系统 [P].

黄学楼 ;

锺荣 ;

郑信实 ;

和顺芳 .

中国专利 :CN119883783A ,2025-04-25

[8]

半导体存储装置及其测试方法 [P].

小桥寿夫 ;

月川靖彦 .

中国专利 :CN1121693C ,1998-04-01

[9]

半导体存储装置及其测试方法和测试电路 [P].

高桥弘行 ;

加藤羲之 ;

稻叶秀雄 ;

内田祥三 ;

园田正俊 .

中国专利 :CN1455932A ,2003-11-12

[10]

半导体存储装置及其测试方法和测试电路 [P].

高桥弘行 ;

稻叶秀雄 ;

内田祥三 .

中国专利 :CN1703759A ,2005-11-30

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