存储装置及其测试方法

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专利类型
发明
申请号
CN200810129037.9
申请日
2008-06-24
公开(公告)号
CN101615433B
公开(公告)日
2009-12-30
发明(设计)人
吴祥煌 李日农
申请人
申请人地址
中国台湾新竹科学园区
IPC主分类号
G11C2914
IPC分类号
代理机构
北京市柳沈律师事务所 11105
代理人
蒲迈文
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
存储器存储装置及其存储器测试方法 [P]. 
张昆辉 ;
林哲民 .
中国专利 :CN112133362A ,2020-12-25
[2]
存储装置和减少测试针脚装置及其测试方法 [P]. 
孔繁生 .
中国专利 :CN101226777B ,2008-07-23
[3]
存储器存储装置及其测试方法 [P]. 
周诠胜 ;
林孟弘 ;
吴伯伦 ;
何家骅 .
中国专利 :CN109147860A ,2019-01-04
[4]
存储装置及其测试方法 [P]. 
尼尔·塔莎 ;
厄瑞·卡路兹尼 ;
查奇·维瑟 ;
瓦勒利·特波 .
中国专利 :CN105469835B ,2016-04-06
[5]
半导体存储装置及其测试方法 [P]. 
小桥寿夫 ;
月川靖彦 .
中国专利 :CN1121693C ,1998-04-01
[6]
存储装置和测试存储装置的方法 [P]. 
金源喆 ;
崔载奎 ;
金泰龙 ;
朴智源 .
韩国专利 :CN120319296A ,2025-07-15
[7]
存储装置及其编程方法 [P]. 
古绍泓 ;
程政宪 ;
铃木淳弘 ;
黄昱闳 ;
陈圣楷 ;
蔡文哲 .
中国专利 :CN113495722A ,2021-10-12
[8]
存储装置及其编程方法 [P]. 
古绍泓 ;
程政宪 ;
铃木淳弘 ;
黄昱闳 ;
陈圣楷 ;
蔡文哲 .
中国专利 :CN113495722B ,2024-05-28
[9]
一种存储装置及其测试方法 [P]. 
陈剑锋 ;
吴国福 .
中国专利 :CN115602242A ,2023-01-13
[10]
存储装置测试系统及存储装置测试方法 [P]. 
游嘉伟 .
中国专利 :CN111698362A ,2020-09-22