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存储装置及其测试方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN200810129037.9
申请日
:
2008-06-24
公开(公告)号
:
CN101615433B
公开(公告)日
:
2009-12-30
发明(设计)人
:
吴祥煌
李日农
申请人
:
申请人地址
:
中国台湾新竹科学园区
IPC主分类号
:
G11C2914
IPC分类号
:
代理机构
:
北京市柳沈律师事务所 11105
代理人
:
蒲迈文
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2009-12-30
公开
公开
2013-09-04
授权
授权
2010-02-24
实质审查的生效
实质审查的生效
共 50 条
[1]
存储器存储装置及其存储器测试方法
[P].
张昆辉
论文数:
0
引用数:
0
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0
张昆辉
;
林哲民
论文数:
0
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0
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0
林哲民
.
中国专利
:CN112133362A
,2020-12-25
[2]
存储装置和减少测试针脚装置及其测试方法
[P].
孔繁生
论文数:
0
引用数:
0
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0
孔繁生
.
中国专利
:CN101226777B
,2008-07-23
[3]
存储器存储装置及其测试方法
[P].
周诠胜
论文数:
0
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0
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0
周诠胜
;
林孟弘
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0
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林孟弘
;
吴伯伦
论文数:
0
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0
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0
吴伯伦
;
何家骅
论文数:
0
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0
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0
何家骅
.
中国专利
:CN109147860A
,2019-01-04
[4]
存储装置及其测试方法
[P].
尼尔·塔莎
论文数:
0
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0
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尼尔·塔莎
;
厄瑞·卡路兹尼
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0
厄瑞·卡路兹尼
;
查奇·维瑟
论文数:
0
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0
查奇·维瑟
;
瓦勒利·特波
论文数:
0
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0
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0
瓦勒利·特波
.
中国专利
:CN105469835B
,2016-04-06
[5]
半导体存储装置及其测试方法
[P].
小桥寿夫
论文数:
0
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0
小桥寿夫
;
月川靖彦
论文数:
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0
月川靖彦
.
中国专利
:CN1121693C
,1998-04-01
[6]
存储装置和测试存储装置的方法
[P].
金源喆
论文数:
0
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机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
金源喆
;
崔载奎
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机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
崔载奎
;
金泰龙
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机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
金泰龙
;
朴智源
论文数:
0
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0
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机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
朴智源
.
韩国专利
:CN120319296A
,2025-07-15
[7]
存储装置及其编程方法
[P].
古绍泓
论文数:
0
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0
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古绍泓
;
程政宪
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0
程政宪
;
铃木淳弘
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0
铃木淳弘
;
黄昱闳
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黄昱闳
;
陈圣楷
论文数:
0
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0
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陈圣楷
;
蔡文哲
论文数:
0
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0
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0
蔡文哲
.
中国专利
:CN113495722A
,2021-10-12
[8]
存储装置及其编程方法
[P].
古绍泓
论文数:
0
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0
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0
机构:
旺宏电子股份有限公司
旺宏电子股份有限公司
古绍泓
;
程政宪
论文数:
0
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机构:
旺宏电子股份有限公司
旺宏电子股份有限公司
程政宪
;
铃木淳弘
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0
机构:
旺宏电子股份有限公司
旺宏电子股份有限公司
铃木淳弘
;
黄昱闳
论文数:
0
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0
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0
机构:
旺宏电子股份有限公司
旺宏电子股份有限公司
黄昱闳
;
陈圣楷
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0
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机构:
旺宏电子股份有限公司
旺宏电子股份有限公司
陈圣楷
;
蔡文哲
论文数:
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0
机构:
旺宏电子股份有限公司
旺宏电子股份有限公司
蔡文哲
.
中国专利
:CN113495722B
,2024-05-28
[9]
一种存储装置及其测试方法
[P].
陈剑锋
论文数:
0
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陈剑锋
;
吴国福
论文数:
0
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0
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0
吴国福
.
中国专利
:CN115602242A
,2023-01-13
[10]
存储装置测试系统及存储装置测试方法
[P].
游嘉伟
论文数:
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0
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0
游嘉伟
.
中国专利
:CN111698362A
,2020-09-22
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