SOC芯片的测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510800344.5

申请日：

2015-11-19

公开(公告)号：

CN105301480A

公开(公告)日：

2016-02-03

发明(设计)人：

舒鹏

申请人：

申请人地址：

610041 四川省成都市高新区吉泰路33号A座9楼

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-02-03	公开	公开
2016-03-02	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101649081516 IPC(主分类):G01R 31/28 专利申请号:2015108003445 申请日:20151119
2018-07-27	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01R 31/28 申请公布日:20160203

共 50 条

[1]

SOC芯片内建测试电路、SOC芯片及测试方法 [P].

吴思欣 ;

郭敬 .

中国专利 :CN115542132A ,2022-12-30

[2]

SoC芯片的内置驱动电路、SoC芯片及用于SoC芯片的测试方法 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN118035021A ,2024-05-14

[3]

SoC芯片的内置驱动电路、SoC芯片及用于SoC芯片的测试方法 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN118035021B ,2024-07-23

[4]

SOC芯片频率测试方法 [P].

李冬梅 ;

王刚 ;

黄凯翔 ;

张方方 ;

李杰 .

中国专利 :CN105182067B ,2015-12-23

[5]

提高SOC芯片测试效率的方法 [P].

谢晋春 ;

陈凯华 ;

陈婷 ;

辛吉升 ;

桑浚之 .

中国专利 :CN101196553A ,2008-06-11

[6]

SoC芯片的调试方法、装置及SoC芯片 [P].

张雷 ;

杜潘洋 .

中国专利 :CN113297091B ,2021-08-24

[7]

SOC芯片功能测试系统及方法 [P].

李洪兵 .

中国专利 :CN105446843B ,2016-03-30

[8]

一种SOC芯片测试方法 [P].

熊忠应 ;

祁建华 ;

马健 ;

吴勇佳 ;

季海英 ;

罗斌 .

中国专利 :CN109801853B ,2019-05-24

[9]

SOC芯片的验证系统及其方法 [P].

赵广浩 .

中国专利 :CN110865971A ,2020-03-06

[10]

SOC芯片测试方法、装置、设备、存储介质 [P].

农凯政 ;

钟汝军 ;

苑鹏 ;

王安 .

中国专利 :CN118409910A ,2024-07-30

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