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SoC芯片的调试方法、装置及SoC芯片
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202110664480.1
申请日
:
2021-06-18
公开(公告)号
:
CN113297091B
公开(公告)日
:
2021-08-24
发明(设计)人
:
张雷
杜潘洋
申请人
:
申请人地址
:
300384 天津市南开区华苑产业区海泰西路18号北2-204工业孵化-3-8
IPC主分类号
:
G06F1136
IPC分类号
:
G06F1578
G06F2144
G06F2160
代理机构
:
北京兰亭信通知识产权代理有限公司 11667
代理人
:
孙峰芳
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-08-24
公开
公开
2022-04-29
授权
授权
2021-09-10
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20210618
共 50 条
[1]
SOC芯片调试方法及调试系统
[P].
高劲松
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高劲松
;
赵修齐
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赵修齐
;
袁涛
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袁涛
;
胡德才
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胡德才
.
中国专利
:CN107704346B
,2018-02-16
[2]
SOC芯片调试设备、方法及装置
[P].
徐卫
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徐卫
.
中国专利
:CN102033807B
,2011-04-27
[3]
SOC芯片烧录调试方法
[P].
陆静怡
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陆静怡
;
张宇斌
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张宇斌
;
王银年
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王银年
;
蒋晓锋
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蒋晓锋
;
孙林
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孙林
;
奚谷枫
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奚谷枫
.
中国专利
:CN103699467B
,2014-04-02
[4]
SoC芯片的内置驱动电路、SoC芯片及用于SoC芯片的测试方法
[P].
请求不公布姓名
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机构:
北京壁仞科技开发有限公司
北京壁仞科技开发有限公司
请求不公布姓名
;
请求不公布姓名
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机构:
北京壁仞科技开发有限公司
北京壁仞科技开发有限公司
请求不公布姓名
;
请求不公布姓名
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北京壁仞科技开发有限公司
北京壁仞科技开发有限公司
请求不公布姓名
;
请求不公布姓名
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北京壁仞科技开发有限公司
北京壁仞科技开发有限公司
请求不公布姓名
;
请求不公布姓名
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机构:
北京壁仞科技开发有限公司
北京壁仞科技开发有限公司
请求不公布姓名
.
中国专利
:CN118035021A
,2024-05-14
[5]
SoC芯片的内置驱动电路、SoC芯片及用于SoC芯片的测试方法
[P].
请求不公布姓名
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北京壁仞科技开发有限公司
北京壁仞科技开发有限公司
请求不公布姓名
;
请求不公布姓名
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机构:
北京壁仞科技开发有限公司
北京壁仞科技开发有限公司
请求不公布姓名
;
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北京壁仞科技开发有限公司
北京壁仞科技开发有限公司
请求不公布姓名
;
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机构:
北京壁仞科技开发有限公司
北京壁仞科技开发有限公司
请求不公布姓名
;
请求不公布姓名
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机构:
北京壁仞科技开发有限公司
北京壁仞科技开发有限公司
请求不公布姓名
.
中国专利
:CN118035021B
,2024-07-23
[6]
SOC芯片的调试方法和调试系统
[P].
徐卫
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徐卫
.
中国专利
:CN102495781A
,2012-06-13
[7]
SoC芯片的图像处理方法、装置、SoC芯片及存储介质
[P].
谭艺乐
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机构:
珠海亿智电子科技有限公司
珠海亿智电子科技有限公司
谭艺乐
;
古安强
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机构:
珠海亿智电子科技有限公司
珠海亿智电子科技有限公司
古安强
;
郑乾
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机构:
珠海亿智电子科技有限公司
珠海亿智电子科技有限公司
郑乾
.
中国专利
:CN117830072A
,2024-04-05
[8]
一种芯片调试装置、调试方法及SOC芯片系统
[P].
丁明耀
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丁明耀
.
中国专利
:CN105808396A
,2016-07-27
[9]
SOC芯片电路及SOC芯片启动路径控制方法
[P].
罗小平
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罗小平
;
鄢曹臣
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鄢曹臣
;
刘文龙
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刘文龙
;
陈旭
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0
陈旭
.
中国专利
:CN114625432A
,2022-06-14
[10]
SOC芯片内建测试电路、SOC芯片及测试方法
[P].
吴思欣
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吴思欣
;
郭敬
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郭敬
.
中国专利
:CN115542132A
,2022-12-30
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