SOC芯片调试方法及调试系统

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201710673491.X
申请日
2017-08-08
公开(公告)号
CN107704346B
公开(公告)日
2018-02-16
发明(设计)人
高劲松 赵修齐 袁涛 胡德才
申请人
申请人地址
410125 湖南省长沙市长沙经济技术开发区泉塘街道东十路南段9号
IPC主分类号
G06F1122
IPC分类号
G06F1136
代理机构
深圳市中原力和专利商标事务所(普通合伙) 44289
代理人
胡国良
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
SOC芯片的调试方法和调试系统 [P]. 
徐卫 .
中国专利 :CN102495781A ,2012-06-13
[2]
SOC芯片调试结构及实现调试信息输出的方法 [P]. 
李源 .
中国专利 :CN101770420A ,2010-07-07
[3]
SoC芯片的调试方法、装置及SoC芯片 [P]. 
张雷 ;
杜潘洋 .
中国专利 :CN113297091B ,2021-08-24
[4]
一种芯片调试装置、调试方法及SOC芯片系统 [P]. 
丁明耀 .
中国专利 :CN105808396A ,2016-07-27
[5]
SOC芯片烧录调试方法 [P]. 
陆静怡 ;
张宇斌 ;
王银年 ;
蒋晓锋 ;
孙林 ;
奚谷枫 .
中国专利 :CN103699467B ,2014-04-02
[6]
一种Soc芯片的调试方法及系统 [P]. 
刘洋 ;
彭鹏 ;
姜黎 ;
许建国 ;
张国 ;
李锐 .
中国专利 :CN107273256A ,2017-10-20
[7]
SOC芯片调试设备、方法及装置 [P]. 
徐卫 .
中国专利 :CN102033807B ,2011-04-27
[8]
SOC芯片的调试方法、系统、设备及介质 [P]. 
熊新永 .
中国专利 :CN119669045A ,2025-03-21
[9]
SoC调试方法、SoC、服务器和调试系统 [P]. 
张学利 ;
江仁清 .
中国专利 :CN118733469A ,2024-10-01
[10]
芯片调试系统及方法与系统芯片 [P]. 
温浪明 ;
温海华 .
中国专利 :CN106681877A ,2017-05-17