SOC芯片烧录调试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201310738739.8

申请日：

2013-12-27

公开(公告)号：

CN103699467B

公开(公告)日：

2014-04-02

发明(设计)人：

陆静怡张宇斌王银年蒋晓锋孙林奚谷枫

申请人：

申请人地址：

213000 江苏省常州市武进高新技术产业开发区常武南路588号C幢450-1-1室

IPC主分类号：

G06F1126

IPC分类号：

代理机构：

无锡华源专利事务所(普通合伙) 32228

代理人：

林弘毅;聂汉钦

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-04-02	公开	公开
2014-04-16	专利申请权、专利权的转移	专利申请权的转移号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101699496548 IPC(主分类):G06F 11/26 专利申请号:2013107387398 变更事项:申请人变更前权利人:无锡致新电子科技有限公司变更后权利人:无锡紫芯集成电路系统有限公司变更事项:地址变更前权利人:214028 江苏省无锡市新区长江路21-1号无锡国家集成电路设计园(创源大厦)1104室变更后权利人:214028 江苏省无锡市新区长江路21号信息产业科技园F栋2楼登记生效日:20140305
2015-05-27	授权	授权
2014-04-30	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101581899739 IPC(主分类):G06F 11/26 专利申请号:2013107387398 申请日:20131227
2017-02-22	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101705177369 IPC(主分类):G06F 11/26 专利号:ZL2013107387398 申请日:20131227 授权公告日:20150527 终止日期:20151227

共 50 条

[1]

SoC芯片的调试方法、装置及SoC芯片 [P].

张雷 ;

杜潘洋 .

中国专利 :CN113297091B ,2021-08-24

[2]

SOC芯片调试方法及调试系统 [P].

高劲松 ;

赵修齐 ;

袁涛 ;

胡德才 .

中国专利 :CN107704346B ,2018-02-16

[3]

SOC芯片调试设备、方法及装置 [P].

徐卫 .

中国专利 :CN102033807B ,2011-04-27

[4]

SOC芯片的调试方法和调试系统 [P].

徐卫 .

中国专利 :CN102495781A ,2012-06-13

[5]

一种批量烧录SOC芯片的装置及烧录方法 [P].

雍林 ;

姚欣钿 ;

蒋新本 .

中国专利 :CN120162058A ,2025-06-17

[6]

一种芯片调试装置、调试方法及SOC芯片系统 [P].

丁明耀 .

中国专利 :CN105808396A ,2016-07-27

[7]

SOC芯片调试结构及实现调试信息输出的方法 [P].

李源 .

中国专利 :CN101770420A ,2010-07-07

[8]

一种SOC芯片调试方法和设备 [P].

张旭 .

中国专利 :CN106776195A ,2017-05-31

[9]

SOC芯片的调试方法、系统、设备及介质 [P].

熊新永 .

中国专利 :CN119669045A ,2025-03-21

[10]

用于USB接口的SOC烧录方法及烧录器装置 [P].

胡商州 ;

姚玉锋 ;

寇琬莹 ;

刘成 ;

胡勇 ;

杨文超 ;

刘澎 ;

易谦 ;

钱永学 ;

黄鑫 ;

蔡光杰 .

中国专利 :CN120045198A ,2025-05-27

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