IC推力测试仪

被引：0

申请号：

CN202111579112.3

申请日：

2021-12-22

公开(公告)号：

CN114323383A

公开(公告)日：

2022-04-12

发明(设计)人：

谢夫战

申请人：

申请人地址：

211100 江苏省南京市江宁区汤山工业园纬三路6号

IPC主分类号：

G01L500

IPC分类号：

代理机构：

南京勤行知识产权代理事务所(普通合伙) 32397

代理人：

罗柱平

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-04-12	公开	公开

共 50 条

[1]

推力轴承动态测试仪 [P].

朱孔敏 ;

高奋武 ;

李国斌 ;

李副来 ;

刘金秀 ;

王宗克 ;

廖家祥 ;

高宇 .

中国专利 :CN201331402Y ,2009-10-21

[2]

推力测试仪及推力测试方法 [P].

徐雷 ;

周华东 .

中国专利 :CN111077009A ,2020-04-28

[3]

芯片推力测试仪 [P].

余登华 ;

卢良军 ;

顾南雁 .

中国专利 :CN202562810U ,2012-11-28

[4]

碳晶推力测试仪 [P].

郭红振 .

中国专利 :CN115541384A ,2022-12-30

[5]

一种推力测试仪 [P].

谭亮 ;

朱富斌 .

中国专利 :CN210180838U ,2020-03-24

[6]

钞箱推力弹簧测试仪 [P].

叶乐克 ;

章世用 .

中国专利 :CN204758267U ,2015-11-11

[7]

LED驱动IC测试仪 [P].

吴春耀 ;

史小春 .

中国专利 :CN214312597U ,2021-09-28

[8]

测试仪（酒精测试仪） [P].

徐春辉 .

中国专利 :CN307368539S ,2022-05-27

[9]

测试仪（醛测试仪） [P].

刘奕含 ;

孙岩 .

中国专利 :CN303653892S ,2016-04-27

[10]

光功率多路测试仪 [P].

史雪涛 ;

樊志凡 ;

王震 ;

丁大庆 ;

丁文韬 ;

严宇 ;

王巍巍 ;

朱畅 .

中国专利 :CN119714520B ,2025-12-30

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