推力测试仪及推力测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201911407831.X

申请日：

2019-12-31

公开(公告)号：

CN111077009A

公开(公告)日：

2020-04-28

发明(设计)人：

徐雷周华东

申请人：

申请人地址：

401120 重庆市渝北区玉峰山镇玉龙大道188号

IPC主分类号：

G01N300

IPC分类号：

G01N302

代理机构：

深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙) 44312

代理人：

鲍竹

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-05-22	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 3/00 申请日:20191231
2020-04-28	公开	公开

共 50 条

[1]

芯片推力测试仪 [P].

余登华 ;

卢良军 ;

顾南雁 .

中国专利 :CN202562810U ,2012-11-28

[2]

IC推力测试仪 [P].

谢夫战 .

中国专利 :CN114323383A ,2022-04-12

[3]

碳晶推力测试仪 [P].

郭红振 .

中国专利 :CN115541384A ,2022-12-30

[4]

推力轴承动态测试仪 [P].

朱孔敏 ;

高奋武 ;

李国斌 ;

李副来 ;

刘金秀 ;

王宗克 ;

廖家祥 ;

高宇 .

中国专利 :CN201331402Y ,2009-10-21

[5]

推力测试装置及推力测试方法 [P].

黎灿明 ;

汪兴潮 ;

黄思文 ;

李赳华 .

中国专利 :CN117537973A ,2024-02-09

[6]

一种推力测试仪 [P].

谭亮 ;

朱富斌 .

中国专利 :CN210180838U ,2020-03-24

[7]

钞箱推力弹簧测试仪 [P].

叶乐克 ;

章世用 .

中国专利 :CN204758267U ,2015-11-11

[8]

推拉力测试仪的推力测试部 [P].

蒋忠伟 .

中国专利 :CN210401051U ,2020-04-24

[9]

芯片推力测试方法 [P].

彭涛 ;

丁勇 .

中国专利 :CN111289433A ,2020-06-16

[10]

抗推力测试装置及抗推力测试方法 [P].

何向前 .

中国专利 :CN118687740A ,2024-09-24

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