一种功率器件高温测试分选装置

被引：0

申请号：

CN202123292294.4

申请日：

2021-12-25

公开(公告)号：

CN216500798U

公开(公告)日：

2022-05-13

发明(设计)人：

庞朝远林群滔

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市宝安区沙井街道锦秀路田泌苑5单元401房(办公场所)

IPC主分类号：

B07C500

IPC分类号：

B07C502 B07C536 B07C538

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-05-13	授权	授权

共 50 条

[1]

一种功率器件DBC高温测试工装 [P].

杜浩晨 .

中国专利 :CN223611571U ,2025-11-28

[2]

一种高温测试分选机 [P].

王体 ;

李辉 ;

李俊强 ;

陈俊安 .

中国专利 :CN209312729U ,2019-08-27

[3]

半导体器件高温性能的测试和分选装置 [P].

杨林 ;

严向阳 ;

陈祺 .

中国专利 :CN203343091U ,2013-12-18

[4]

一种功率器件MOSFET特性测试实验装置 [P].

俞勇祥 .

中国专利 :CN205484684U ,2016-08-17

[5]

一种半导体器件测试分选装置 [P].

卢永强 .

中国专利 :CN203750859U ,2014-08-06

[6]

一种功率器件测试装置 [P].

于望 ;

温景超 ;

熊耀斌 ;

赵彦飞 ;

李明明 ;

刘思嘉 ;

王宇 ;

刘开 ;

李泱 ;

阮磊 ;

胡涵 .

中国专利 :CN222439615U ,2025-02-07

[7]

一种功率器件测试装置 [P].

蒲宝华 ;

廖光朝 ;

陈雪丽 .

中国专利 :CN223284329U ,2025-08-29

[8]

一种功率器件测试低温装置 [P].

杜浩晨 .

中国专利 :CN223611547U ,2025-11-28

[9]

一种功率器件测试装置 [P].

周嘉骏 .

中国专利 :CN220933123U ,2024-05-10

[10]

一种常高温测试分选机 [P].

茹建成 ;

任忆南 .

中国专利 :CN223556571U ,2025-11-18

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