一种光学测量探头的过滤结构

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201020539959.X
申请日
2010-09-25
公开(公告)号
CN201844967U
公开(公告)日
2011-05-25
发明(设计)人
李强 田耀刚
申请人
申请人地址
101111 北京市经济技术开发区科创14街99号17栋
IPC主分类号
G01N2101
IPC分类号
G01N2115 B01D4610
代理机构
北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人
任默闻
法律状态
专利权的终止
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
一种光学测量探头的清洁结构 [P]. 
田耀刚 ;
李强 .
中国专利 :CN201926620U ,2011-08-10
[2]
一种光学测量探头的回流结构 [P]. 
李志雄 ;
李强 .
中国专利 :CN201819871U ,2011-05-04
[3]
一种光学测量探头的校准结构 [P]. 
田耀刚 ;
李强 .
中国专利 :CN201926617U ,2011-08-10
[4]
一种光学测量探头的固定结构 [P]. 
陶湛潮 .
中国专利 :CN213984926U ,2021-08-17
[5]
一种光学测量探头的固定结构 [P]. 
吴瑾 ;
刘峰龙 ;
包泽伟 ;
边心田 .
中国专利 :CN209541672U ,2019-10-25
[6]
烟气测量光学探头的保护结构 [P]. 
李强 ;
李志雄 .
中国专利 :CN206515221U ,2017-09-22
[7]
一种光学测量专用探头 [P]. 
左芬 .
中国专利 :CN207924144U ,2018-09-28
[8]
一种光学测量探头清洁装置 [P]. 
张波 .
中国专利 :CN212109275U ,2020-12-08
[9]
光学探头和光学测量系统 [P]. 
许占堂 ;
曹文熙 .
中国专利 :CN108572147A ,2018-09-25
[10]
一种高湿度低浓度烟气污染物光学测量探头系统 [P]. 
王东民 ;
田耀刚 ;
李强 .
中国专利 :CN102419304A ,2012-04-18