光学探头和光学测量系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810381441.9

申请日：

2018-04-25

公开(公告)号：

CN108572147A

公开(公告)日：

2018-09-25

发明(设计)人：

许占堂曹文熙

申请人：

申请人地址：

510000 广东省广州市海珠区新港西路164号

IPC主分类号：

G01N2127

IPC分类号：

G01N2115

代理机构：

北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371

代理人：

王文红

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-10-26	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/27 申请日:20180425
2018-09-25	公开	公开

共 50 条

[1]

辐照度探头和光学测量系统 [P].

许占堂 ;

赵俊 ;

周雯 ;

杨跃忠 ;

李彩 ;

曹文熙 .

中国专利 :CN108827462A ,2018-11-16

[2]

辐亮度探头和光学测量系统 [P].

许占堂 ;

杨跃忠 ;

李彩 ;

曹文熙 .

中国专利 :CN108827460A ,2018-11-16

[3]

光学测量系统和光学测量方法 [P].

大久保和明 ;

格雷格·麦基 .

中国专利 :CN103477196B ,2013-12-25

[4]

光学探头和光学测量方法 [P].

长谷川健美 ;

平野充遥 .

中国专利 :CN103703355A ,2014-04-02

[5]

测量探头以及生物体光学测量系统 [P].

松本浩司 .

中国专利 :CN106998999B ,2017-08-01

[6]

测量探头以及生物体光学测量系统 [P].

伊藤辽佑 ;

松本浩司 .

中国专利 :CN104619235B ,2015-05-13

[7]

光学测量系统和包括所述光学测量系统的方法 [P].

拉尔夫·伯恩哈特 ;

曼弗雷德·亚杰拉 .

中国专利 :CN110879217B ,2020-03-13

[8]

用于校准光学测量系统的方法和光学测量系统 [P].

M·J·詹森 ;

刘平 .

中国专利 :CN115485524A ,2022-12-16

[9]

光学测量系统和方法 [P].

M·A·阿博尔 ;

A·A·迈尔斯 ;

M·A·泰雷尔 ;

V·黄 ;

S·史蒂文 ;

T·D·里德 ;

J·T·希尔 ;

S·A·明舒尔 .

美国专利 :CN119738371A ,2025-04-01

[10]

测量探头、生物体光学测量装置以及生物体光学测量系统 [P].

上村健二 ;

后野和弘 ;

小林至峰 ;

菅武志 ;

片仓正弘 ;

伊藤辽佑 .

中国专利 :CN103796569A ,2014-05-14

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