光学测量系统和包括所述光学测量系统的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910821873.1

申请日：

2019-09-02

公开(公告)号：

CN110879217B

公开(公告)日：

2020-03-13

发明(设计)人：

拉尔夫·伯恩哈特曼弗雷德·亚杰拉

申请人：

申请人地址：

德国盖林根

IPC主分类号：

G01N2164

IPC分类号：

代理机构：

中原信达知识产权代理有限责任公司 11219

代理人：

穆森;戚传江

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-03-13	公开	公开
2020-04-07	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/64 申请日:20190902
2023-01-13	授权	授权

共 50 条

[1]

用于校准光学测量系统的方法和光学测量系统 [P].

M·J·詹森 ;

刘平 .

中国专利 :CN115485524A ,2022-12-16

[2]

用于光学测量的系统和方法 [P].

凯姆.C.刘 ;

刘元群 .

中国专利 :CN101065640A ,2007-10-31

[3]

光学测量系统和光学测量方法 [P].

大久保和明 ;

格雷格·麦基 .

中国专利 :CN103477196B ,2013-12-25

[4]

光学测量系统 [P].

约阿希姆·博勒 ;

安德烈亚斯·拜尔 ;

蒂洛·克拉齐穆尔 .

德国专利 :CN118169035A ,2024-06-11

[5]

光学测量系统和方法 [P].

M·A·阿博尔 ;

A·A·迈尔斯 ;

M·A·泰雷尔 ;

V·黄 ;

S·史蒂文 ;

T·D·里德 ;

J·T·希尔 ;

S·A·明舒尔 .

美国专利 :CN119738371A ,2025-04-01

[6]

光学探头和光学测量系统 [P].

许占堂 ;

曹文熙 .

中国专利 :CN108572147A ,2018-09-25

[7]

光学测量设备的跟踪方法、装置和光学测量系统 [P].

陈尚俭 ;

王健宇 ;

王江峰 ;

郑俊 .

中国专利 :CN117387485A ,2024-01-12

[8]

光学测量系统、光学测量方法及光学测量标尺 [P].

王勇 .

中国专利 :CN104254755B ,2014-12-31

[9]

光学测量装置、光学测量系统及光学测量方法 [P].

张健 ;

臧笑妍 ;

孙建超 ;

庄源 .

中国专利 :CN120445042A ,2025-08-08

[10]

光学测量装置、光学测量系统及光学测量方法 [P].

徐添财 .

中国专利 :CN103293157A ,2013-09-11

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