用于校准光谱仪的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201980078643.9

申请日：

2019-11-21

公开(公告)号：

CN113167651A

公开(公告)日：

2021-07-23

发明(设计)人：

约阿希姆·博勒蒂洛·克拉齐穆尔安德烈亚斯·韦伯朱莉安·奥塞

申请人：

申请人地址：

德国盖林根

IPC主分类号：

G01J328

IPC分类号：

代理机构：

中原信达知识产权代理有限责任公司 11219

代理人：

穆森;戚传江

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-07-23	公开	公开
2021-08-10	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 3/28 申请日:20191121

共 50 条

[1]

光谱仪和用于校准光谱仪的方法 [P].

M·胡斯尼克 ;

M·丁泽尔 ;

M·施密特 ;

D·乌利希 .

中国专利 :CN112534224A ,2021-03-19

[2]

校准光源和校准光谱仪的方法 [P].

达伦·席佩尔 .

美国专利 :CN120232520A ,2025-07-01

[3]

用于校准光谱仪装置的方法 [P].

S·S·温克勒 ;

H·齐默尔曼 ;

A·霍萨克 ;

R·洛夫林契奇 ;

F·施密特 ;

P·辛德勒 .

德国专利 :CN117980709A ,2024-05-03

[4]

用于校准光谱仪装置的方法 [P].

R·洛夫林契奇 .

德国专利 :CN118119831A ,2024-05-31

[5]

光谱仪校准 [P].

石崎幸太郎 ;

哈维尔·米格尔-桑切斯 ;

彼得·伦琴 .

中国专利 :CN110809712B ,2020-02-18

[6]

用于校准成批光谱仪装置中的光谱仪装置的方法 [P].

M·汉克 ;

R·洛夫林契奇 ;

A·霍萨克 ;

T·劳施 .

德国专利 :CN120225843A ,2025-06-27

[7]

用于校准拉曼光谱仪的光谱响应度的校准材料和校准方法 [P].

约瑟夫·斯莱特 .

美国专利 :CN119469411A ,2025-02-18

[8]

光谱仪以及用于光谱仪的方法 [P].

S·J·泰勒 ;

J·R·阿特金森 .

中国专利 :CN108279264A ,2018-07-13

[9]

光谱仪的波长校准方法 [P].

R·卢卡斯 ;

G·沙帕彻 .

中国专利 :CN101441165A ,2009-05-27

[10]

光谱仪、用于制造光谱仪的方法和用于运行光谱仪的方法 [P].

B·斯坦 ;

M·胡思尼克 ;

E·鲍姆加特 ;

F·毛赫 ;

C·谢林 ;

R·维斯 .

中国专利 :CN111684243A ,2020-09-18

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