用于校准光谱仪装置的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202280070114.6

申请日：

2022-10-18

公开(公告)号：

CN118119831A

公开(公告)日：

2024-05-31

发明(设计)人：

R·洛夫林契奇

申请人：

特里纳米克斯股份有限公司

申请人地址：

德国

IPC主分类号：

G01J3/453

IPC分类号：

G01J3/28

代理机构：

北京市中咨律师事务所 11247

代理人：

于静;牛南辉

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-05-31	公开	公开
2024-11-01	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01J 3/453申请日:20221018

共 50 条

[1]

用于校准光谱仪装置的方法 [P].

S·S·温克勒 ;

H·齐默尔曼 ;

A·霍萨克 ;

R·洛夫林契奇 ;

F·施密特 ;

P·辛德勒 .

德国专利 :CN117980709A ,2024-05-03

[2]

用于校准成批光谱仪装置中的光谱仪装置的方法 [P].

M·汉克 ;

R·洛夫林契奇 ;

A·霍萨克 ;

T·劳施 .

德国专利 :CN120225843A ,2025-06-27

[3]

光谱仪装置和用于对样本进行分类的方法 [P].

S·库尔卡尼 ;

C·普罗科普 ;

C·M·奥古恩 .

德国专利 :CN120322666A ,2025-07-15

[4]

多维光谱仪校准 [P].

A·古佐纳托 ;

I·F·胡埃本纳 .

德国专利 :CN118355251A ,2024-07-16

[5]

光谱仪和用于校准光谱仪的方法 [P].

M·胡斯尼克 ;

M·丁泽尔 ;

M·施密特 ;

D·乌利希 .

中国专利 :CN112534224A ,2021-03-19

[6]

用于校准光谱仪的方法 [P].

约阿希姆·博勒 ;

蒂洛·克拉齐穆尔 ;

安德烈亚斯·韦伯 ;

朱莉安·奥塞 .

中国专利 :CN113167651A ,2021-07-23

[7]

光谱仪以及用于光谱仪的方法 [P].

S·J·泰勒 ;

J·R·阿特金森 .

中国专利 :CN108279264A ,2018-07-13

[8]

用于确定光谱仪的校准参数的方法 [P].

H·萨亚里 ;

J·梅克南 ;

C·霍姆伦德 ;

U·坎托杰维 ;

J·安蒂拉 ;

R·曼尼拉 .

中国专利 :CN104390703A ,2015-03-04

[9]

光谱仪装置以及用于制造光谱仪装置的方法 [P].

M·胡斯尼克 ;

C·胡贝尔 ;

R·罗德尔 ;

B·斯坦 ;

C·谢林 .

中国专利 :CN112534222A ,2021-03-19

[10]

用于光谱仪系统的线性温度校准补偿 [P].

哈维尔.米格尔桑切斯 .

中国专利 :CN113227730A ,2021-08-06

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