光谱仪装置和用于对样本进行分类的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202380079049.8

申请日：

2023-11-14

公开(公告)号：

CN120322666A

公开(公告)日：

2025-07-15

发明(设计)人：

S·库尔卡尼 C·普罗科普 C·M·奥古恩

申请人：

特里纳米克斯股份有限公司

申请人地址：

德国

IPC主分类号：

G01N21/31

IPC分类号：

G01N21/17 G01N21/55

代理机构：

北京市中咨律师事务所 11247

代理人：

王英杰;于静

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-12-02	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/31申请日:20231114
2025-07-15	公开	公开

共 50 条

[1]

用于校准光谱仪装置的方法 [P].

R·洛夫林契奇 .

德国专利 :CN118119831A ,2024-05-31

[2]

光谱仪以及用于光谱仪的方法 [P].

S·J·泰勒 ;

J·R·阿特金森 .

中国专利 :CN108279264A ,2018-07-13

[3]

用于校准光谱仪装置的方法 [P].

S·S·温克勒 ;

H·齐默尔曼 ;

A·霍萨克 ;

R·洛夫林契奇 ;

F·施密特 ;

P·辛德勒 .

德国专利 :CN117980709A ,2024-05-03

[4]

光谱仪、用于制造光谱仪的方法和用于运行光谱仪的方法 [P].

B·斯坦 ;

M·胡思尼克 ;

E·鲍姆加特 ;

F·毛赫 ;

C·谢林 ;

R·维斯 .

中国专利 :CN111684243A ,2020-09-18

[5]

用于运行光谱仪的方法和设备以及光谱仪 [P].

B.施泰因 ;

C.舍林 ;

M.赫默斯多夫 ;

M.胡斯尼克 ;

R.诺尔特迈尔 ;

F.米歇尔 .

中国专利 :CN110207820A ,2019-09-06

[6]

用于对试样进行光谱分析的光谱仪 [P].

米夏埃尔·巴尔特 ;

拉尔夫-皮特·京特 ;

卡斯滕·林迪希 ;

京特·鲁道夫 ;

塞巴斯蒂安·坦纳特 ;

斯特芬·瓦格纳 .

德国专利 :CN120344837A ,2025-07-18

[7]

用于校准成批光谱仪装置中的光谱仪装置的方法 [P].

M·汉克 ;

R·洛夫林契奇 ;

A·霍萨克 ;

T·劳施 .

德国专利 :CN120225843A ,2025-06-27

[8]

光谱仪装置 [P].

W·赫尔梅斯 ;

S·瓦鲁施 ;

R·森德 .

中国专利 :CN114127520A ,2022-03-01

[9]

光谱仪装置 [P].

W·赫尔梅斯 ;

S·瓦鲁施 ;

R·森德 .

德国专利 :CN114127520B ,2025-10-14

[10]

光谱仪设备和用于制造光谱仪设备的方法 [P].

R·诺特迈耶 ;

M·胡思尼克 ;

E·鲍姆加特 ;

M·施米德 ;

R·勒德尔 ;

B·斯坦 ;

C·谢林 ;

C·D·克莱默 .

中国专利 :CN113196021A ,2021-07-30

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