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可控硅检测仪及可控硅性能检测方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202111128720.2
申请日：
2021-09-26
公开(公告)号：
CN114047419A
公开(公告)日：
2022-02-15
发明(设计)人：
孟轩
金勇范
申请人：
申请人地址：
100016 北京市朝阳区酒仙桥东路1号
IPC主分类号：
G01R3126
IPC分类号：
G01R31327
代理机构：
代理人：
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-03-04 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/26 申请日:20210926 |
| 2022-02-15 | 公开 | 公开 |