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包括使用经训练机器学习模型的光学邻近效应校正的用于确定掩模图案的方法
被引:0
申请号
:
CN202180014147.4
申请日
:
2021-02-04
公开(公告)号
:
CN115087925A
公开(公告)日
:
2022-09-20
发明(设计)人
:
曹宇
陶峻
张权
束永生
冯韦钧
申请人
:
申请人地址
:
荷兰维德霍温
IPC主分类号
:
G03F136
IPC分类号
:
G03F720
代理机构
:
中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人
:
王益
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-09-20
公开
公开
共 50 条
[1]
训练机器学习模型以确定掩模的光学邻近效应校正的方法
[P].
陶峻
论文数:
0
引用数:
0
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0
陶峻
;
S·H·L·巴伦
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S·H·L·巴伦
;
苏静
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苏静
;
罗亚
论文数:
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罗亚
;
曹宇
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0
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0
曹宇
.
中国专利
:CN113454532A
,2021-09-28
[2]
训练机器学习模型以确定掩模的光学邻近效应校正的方法
[P].
陶峻
论文数:
0
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0
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0
机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
陶峻
;
S·H·L·巴伦
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0
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0
机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
S·H·L·巴伦
;
苏静
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0
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0
机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
苏静
;
罗亚
论文数:
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
罗亚
;
曹宇
论文数:
0
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0
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0
机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
曹宇
.
:CN120406039A
,2025-08-01
[3]
用于机器学习辅助的光学邻近效应误差校正的训练方法
[P].
文载寅
论文数:
0
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0
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0
机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
文载寅
.
:CN113614638B
,2025-04-01
[4]
用于机器学习辅助的光学邻近效应误差校正的训练方法
[P].
文载寅
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0
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0
文载寅
.
中国专利
:CN113614638A
,2021-11-05
[5]
基于机器学习的逆光学邻近效应校正和过程模型校准
[P].
马里纳斯·范登布林克
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马里纳斯·范登布林克
;
曹宇
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曹宇
;
邹毅
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邹毅
.
中国专利
:CN112384860A
,2021-02-19
[6]
基于机器学习的逆光学邻近效应校正和过程模型校准
[P].
马里纳斯·范登布林克
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
马里纳斯·范登布林克
;
曹宇
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
曹宇
;
邹毅
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0
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
邹毅
.
:CN117724300A
,2024-03-19
[7]
用于机器学习辅助的光学邻近误差校正的训练方法
[P].
苏静
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0
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
苏静
;
卢彦文
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
卢彦文
;
罗亚
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0
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
罗亚
.
:CN115185163B
,2025-12-05
[8]
用于机器学习辅助的光学邻近误差校正的训练方法
[P].
苏静
论文数:
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苏静
;
卢彦文
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卢彦文
;
罗亚
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0
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0
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0
罗亚
.
中国专利
:CN111051993B
,2020-04-21
[9]
光学邻近效应校正的方法
[P].
廖显煌
论文数:
0
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0
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廖显煌
;
曾鼎程
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曾鼎程
;
胡展源
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0
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0
胡展源
.
中国专利
:CN115100047A
,2022-09-23
[10]
用于提高经训练的机器学习模型的性能的方法
[P].
S·S·塔拉迪
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0
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S·S·塔拉迪
;
A·瓦尔塔卡
论文数:
0
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0
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0
A·瓦尔塔卡
.
中国专利
:CN108027899A
,2018-05-11
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