一种碳化硅复合材料中杂质元素含量的测定方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201611138864.5
申请日
2016-12-12
公开(公告)号
CN106596701A
公开(公告)日
2017-04-26
发明(设计)人
张壮伟 陈艳宏 杨永明
申请人
申请人地址
014035 内蒙古自治区包头市青山区456信箱科技处
IPC主分类号
G01N2762
IPC分类号
代理机构
核工业专利中心 11007
代理人
张雅丁
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
一种碳化硅复合材料中铝、镁等杂质元素含量的测定方法 [P]. 
杨永明 ;
张庆明 ;
王虹 ;
杨利春 ;
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[4]
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[10]
碳化硅的制备方法及碳化硅复合材料 [P]. 
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河野梓 ;
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