一种硅、碳化硅环表面金属元素含量的检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410832975.4

申请日：

2024-06-26

公开(公告)号：

CN118655213A

公开(公告)日：

2024-09-17

发明(设计)人：

苏康邓凯超

申请人：

吉盛微（武汉）新材料科技有限公司湖北九峰山实验室

申请人地址：

430000 湖北省武汉市武汉经济技术开发区综合保税区25MC地块加工贸易工业园7栋701室

IPC主分类号：

G01N27/626

IPC分类号：

G01N1/28 G01N1/34

代理机构：

武汉科湖知识产权代理事务所(普通合伙) 42313

代理人：

丁雄虎

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-10-08	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 27/626申请日:20240626
2025-12-02	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回IPC(主分类):G01N 27/626申请公布日:20240917
2024-09-17	公开	公开

共 50 条

[1]

一种检测碳化硅外延晶片表面痕量金属的方法 [P].

颜晓茵 ;

李浩然 ;

李锡光 .

中国专利 :CN115144459A ,2022-10-04

[2]

一种碳化硅复合材料中杂质元素含量的测定方法 [P].

张壮伟 ;

陈艳宏 ;

杨永明 .

中国专利 :CN106596701A ,2017-04-26

[3]

一种焊接烟尘中金属元素含量的检测方法 [P].

蒋士芹 ;

洪烨 ;

韩蕾 ;

杨晶秋 ;

李琳 .

中国专利 :CN117368181A ,2024-01-09

[4]

一种碳纤维杂质中金属元素的检测方法 [P].

蒋露 ;

楚沉静 ;

喻聪聪 .

中国专利 :CN117949523A ,2024-04-30

[5]

一种电子级碳化硅块基体金属杂质检测方法 [P].

刘宏超 ;

王亚萍 ;

胥丽娟 ;

张榆春 ;

朱亚琳 ;

李昊 ;

米茜 ;

成敏 ;

翟倩 ;

邝颖怡 ;

蹇毅 ;

梁栋 ;

周柯宇 .

中国专利 :CN120404896A ,2025-08-01

[6]

一种测定OLED材料中残留金属元素含量的方法 [P].

陈景生 ;

潘统很 ;

戴雷 ;

蔡丽菲 .

中国专利 :CN114184445A ,2022-03-15

[7]

一种药用胶塞中金属元素与非金属元素含量的检测方法 [P].

武静文 ;

罗彦凤 ;

范能全 ;

李莎 ;

詹宇杰 ;

杨柳 ;

冯雨薇 ;

贺丽英 .

中国专利 :CN114047175A ,2022-02-15

[8]

一种纳米材料中金属元素含量的检测方法 [P].

肖建中 ;

李小梅 ;

程晓兵 ;

沈本洪 ;

高宇宁 .

中国专利 :CN117491344A ,2024-02-02

[9]

一种同时检测硬脂酸镁中16种金属元素含量的方法 [P].

蔡立荣 ;

刘雁鸣 ;

李昌亮 ;

梁晟 ;

舒海平 .

中国专利 :CN119064439A ,2024-12-03

[10]

一种检测单细胞中金属元素含量的方法 [P].

胡立刚 ;

张俊辉 ;

刘丽红 ;

王丁一 ;

何滨 ;

江桂斌 .

中国专利 :CN119804275A ,2025-04-11

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