一种存储设备的IO性能的测试系统及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510811413.2

申请日：

2015-11-20

公开(公告)号：

CN105446862B

公开(公告)日：

2016-03-30

发明(设计)人：

李丽

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区关口二路智恒产业园30栋5楼

IPC主分类号：

G06F1134

IPC分类号：

代理机构：

深圳市六加知识产权代理有限公司 44372

代理人：

宋建平

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-04-27	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101657707378 IPC(主分类):G06F 11/34 专利申请号:2015108114132 申请日:20151120
2020-06-16	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移 IPC(主分类):G06F 11/34 登记生效日:20200528 变更事项:专利权人变更前权利人:深圳市迪菲特科技股份有限公司变更后权利人:成都立扬信息技术有限公司变更事项:地址变更前权利人:518000 广东省深圳市南山区关口二路智恒产业园30栋5楼变更后权利人:610000 四川省成都市高新区天辰路88号1栋1单元601号
2019-04-23	授权	授权
2016-03-30	公开	公开

共 50 条

[1]

测试存储设备IO性能的方法、系统、存储介质及设备 [P].

徐通 ;

吴登勇 ;

于英杰 .

中国专利 :CN115373962A ,2022-11-22

[2]

一种存储设备的IO性能测试方法 [P].

李观林 ;

古金悦 .

中国专利 :CN117746956B ,2025-01-03

[3]

一种存储设备的IO性能测试方法 [P].

李华泰 ;

黄定昌 ;

卢来 .

中国专利 :CN117690470B ,2025-03-14

[4]

一种存储设备的IO性能测试方法 [P].

李观林 ;

古金悦 .

中国专利 :CN117746956A ,2024-03-22

[5]

一种存储设备的IO性能测试方法 [P].

李华泰 ;

黄定昌 ;

卢来 .

中国专利 :CN117690470A ,2024-03-12

[6]

SAN存储设备的IO性能测试方法及装置 [P].

江超 .

中国专利 :CN106534373B ,2017-03-22

[7]

一种存储器的性能测试系统及性能测试方法 [P].

余玉 ;

许展榕 .

中国专利 :CN117854569A ,2024-04-09

[8]

一种存储器的性能测试系统及性能测试方法 [P].

余玉 ;

许展榕 .

中国专利 :CN117854569B ,2024-05-24

[9]

一种IO测试设备及IO测试系统 [P].

朱翔 ;

赵云建 ;

于小建 ;

吴宗喜 ;

郭东明 .

中国专利 :CN112649718B ,2021-04-13

[10]

一种计算设备性能测试方法、系统、计算设备及存储介质 [P].

张伟 ;

孙建民 ;

曹现胜 .

中国专利 :CN113688057A ,2021-11-23

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