一种存储设备的IO性能测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311681452.6

申请日：

2023-12-07

公开(公告)号：

CN117690470B

公开(公告)日：

2025-03-14

发明(设计)人：

李华泰黄定昌卢来

申请人：

湛江科技学院

申请人地址：

524088 广东省湛江市麻章区湛江科技学院

IPC主分类号：

G11C29/12

IPC分类号：

G06F11/34

代理机构：

厦门呈睿知识产权代理有限公司 35298

代理人：

郑拥军

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

广东省湛江市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-03-29	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G11C 29/12申请日:20231207
2024-03-12	公开	公开
2025-12-26	专利权质押登记、变更及注销	专利权质押登记IPC(主分类):G11C 29/12登记号:Y2025980059006登记日:20251209出质人:湛江科技学院质权人:交通银行股份有限公司湛江分行发明名称:一种存储设备的IO性能测试方法申请日:20231207授权公告日:20250314
2025-03-14	授权	授权

共 50 条

[1]

一种存储设备的IO性能测试方法 [P].

李华泰 ;

黄定昌 ;

卢来 .

中国专利 :CN117690470A ,2024-03-12

[2]

一种存储设备的IO性能测试方法 [P].

李观林 ;

古金悦 .

中国专利 :CN117746956B ,2025-01-03

[3]

一种存储设备的IO性能测试方法 [P].

李观林 ;

古金悦 .

中国专利 :CN117746956A ,2024-03-22

[4]

SAN存储设备的IO性能测试方法及装置 [P].

江超 .

中国专利 :CN106534373B ,2017-03-22

[5]

一种存储设备的IO性能的测试系统及方法 [P].

李丽 .

中国专利 :CN105446862B ,2016-03-30

[6]

测试存储设备IO性能的方法、系统、存储介质及设备 [P].

徐通 ;

吴登勇 ;

于英杰 .

中国专利 :CN115373962A ,2022-11-22

[7]

一种家用照明设备性能测试方法 [P].

张育平 .

中国专利 :CN117251706B ,2024-11-22

[8]

硬盘IO性能测试方法 [P].

李承隆 ;

向哲爽 ;

李俐 .

中国专利 :CN115185753B ,2025-09-16

[9]

网络设备的设备性能测试方法、装置、存储介质及设备 [P].

高鸿磊 ;

欧怀谷 ;

王枭卿 ;

丁倩 .

中国专利 :CN121000629A ,2025-11-21

[10]

一种设备性能测试方法及装置 [P].

李勇 ;

孙浩 ;

彭木根 .

中国专利 :CN112512074A ,2021-03-16

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