硬盘IO性能测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202210811143.5

申请日：

2022-07-11

公开(公告)号：

CN115185753B

公开(公告)日：

2025-09-16

发明(设计)人：

李承隆向哲爽李俐

申请人：

四川爱创科技有限公司

申请人地址：

621000 四川省绵阳市安州区安州工业园区马鞍大道四川爱创科技有限公司

IPC主分类号：

G06F11/22

IPC分类号：

代理机构：

成都虹桥专利事务所(普通合伙) 51124

代理人：

吴中伟

法律状态：

授权

国省代码：

黑龙江省哈尔滨市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-16	授权	授权

共 50 条

[1]

硬盘性能测试方法及模拟硬盘 [P].

许飞 .

中国专利 :CN112650635B ,2024-01-30

[2]

硬盘性能测试方法及模拟硬盘 [P].

许飞 .

中国专利 :CN112650635A ,2021-04-13

[3]

基于固态硬盘的IO性能测试方法、装置和计算机设备 [P].

黎军龙 ;

赵寅初 .

中国专利 :CN110377470A ,2019-10-25

[4]

固态硬盘性能测试方法及装置 [P].

李创锋 ;

蕭智仁 .

中国专利 :CN110569152A ,2019-12-13

[5]

硬盘性能测试方法、系统和装置 [P].

唐航 ;

钟忻 .

中国专利 :CN119883758A ,2025-04-25

[6]

固态硬盘的性能测试方法及装置 [P].

张长安 ;

王旭光 ;

刘虹越 ;

王术 .

中国专利 :CN103578568B ,2014-02-12

[7]

固态硬盘SSD性能测试方法和装置 [P].

孙梁 .

中国专利 :CN109471762A ,2019-03-15

[8]

一种存储设备的IO性能测试方法 [P].

李观林 ;

古金悦 .

中国专利 :CN117746956B ,2025-01-03

[9]

SAN存储设备的IO性能测试方法及装置 [P].

江超 .

中国专利 :CN106534373B ,2017-03-22

[10]

一种存储设备的IO性能测试方法 [P].

李华泰 ;

黄定昌 ;

卢来 .

中国专利 :CN117690470B ,2025-03-14

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