硬盘性能测试方法及模拟硬盘

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011525987.0

申请日：

2020-12-22

公开(公告)号：

CN112650635B

公开(公告)日：

2024-01-30

发明(设计)人：

许飞

申请人：

宁畅信息产业（北京）有限公司

申请人地址：

100089 北京市海淀区东北旺西路8号院25号楼3层335

IPC主分类号：

G06F11/22

IPC分类号：

G06F11/26

代理机构：

华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

郭玮

法律状态：

授权

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-01-30	授权	授权

共 50 条

[1]

硬盘性能测试方法及模拟硬盘 [P].

许飞 .

中国专利 :CN112650635A ,2021-04-13

[2]

硬盘IO性能测试方法 [P].

李承隆 ;

向哲爽 ;

李俐 .

中国专利 :CN115185753B ,2025-09-16

[3]

固态硬盘性能测试方法及装置 [P].

李创锋 ;

蕭智仁 .

中国专利 :CN110569152A ,2019-12-13

[4]

固态硬盘的性能测试方法及装置 [P].

张长安 ;

王旭光 ;

刘虹越 ;

王术 .

中国专利 :CN103578568B ,2014-02-12

[5]

固态硬盘SSD性能测试方法和装置 [P].

孙梁 .

中国专利 :CN109471762A ,2019-03-15

[6]

硬盘性能检测方法及相关设备 [P].

魏巍 ;

袁杰 .

中国专利 :CN117672330A ,2024-03-08

[7]

硬盘性能测试方法、系统和装置 [P].

唐航 ;

钟忻 .

中国专利 :CN119883758A ,2025-04-25

[8]

硬盘性能测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

邱红飞 ;

李先绪 ;

郑文武 ;

黄植勤 ;

王海霞 ;

朱海云 .

中国专利 :CN115202944B ,2024-11-19

[9]

一种硬盘性能测试方法、中央控制机及测试机 [P].

闫涵 .

中国专利 :CN115527603A ,2022-12-27

[10]

固态硬盘存储性能测试方法、系统、图像存储设备和硬盘 [P].

吴佳 ;

李礼 ;

吴叶楠 .

中国专利 :CN115083506A ,2022-09-20

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