软件缺陷检测方法及装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201410196027.2
申请日
2014-05-09
公开(公告)号
CN103970657B
公开(公告)日
2014-08-06
发明(设计)人
杨学红
申请人
申请人地址
100033 北京市西城区金融大街21号
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
代理机构
北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205
代理人
刘芳
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
软件缺陷检测方法及装置 [P]. 
衷璐洁 .
中国专利 :CN105204997A ,2015-12-30
[2]
软件缺陷检测方法及装置 [P]. 
杨春晖 ;
高岩 ;
李冬 .
中国专利 :CN107247662B ,2017-10-13
[3]
软件缺陷预测方法及装置 [P]. 
高岩 ;
杨春晖 ;
李冬 .
中国专利 :CN106919505B ,2017-07-04
[4]
基于软件缺陷关联分析的软件缺陷定位方法 [P]. 
刘烃 ;
马雪 ;
崔笛 ;
徐茜 ;
刘靖雯 ;
钟定洪 .
中国专利 :CN112699018A ,2021-04-23
[5]
一种软件缺陷检测方法及其检测系统 [P]. 
张得佳 .
中国专利 :CN108829576A ,2018-11-16
[6]
软件缺陷智能检测方法和系统 [P]. 
高岩 ;
杨春晖 ;
李冬 .
中国专利 :CN106528417A ,2017-03-22
[7]
一种针对软件缺陷的检测方法 [P]. 
胡昌振 ;
秦强 ;
王崑声 ;
闫怀志 .
中国专利 :CN102385550B ,2012-03-21
[8]
一种软件缺陷检测方法与装置 [P]. 
王召 ;
俞俊 ;
许明杰 ;
李东辉 ;
吴小志 ;
张昕 .
中国专利 :CN112860545B ,2021-05-28
[9]
软件缺陷检测方法、装置、设备和存储介质 [P]. 
刘自强 .
中国专利 :CN115509906B ,2025-10-28
[10]
软件缺陷检测方法、装置、设备和存储介质 [P]. 
刘自强 .
中国专利 :CN115509906A ,2022-12-23