软件缺陷检测方法、装置、设备和存储介质

被引：0

申请号：

CN202211152133.1

申请日：

2022-09-21

公开(公告)号：

CN115509906A

公开(公告)日：

2022-12-23

发明(设计)人：

刘自强

申请人：

申请人地址：

100071 北京市丰台区丰台北路18号金唐中心A座20层

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

代理机构：

北京中博世达专利商标代理有限公司 11274

代理人：

申健

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-01-10	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20220921
2022-12-23	公开	公开

共 50 条

[1]

软件缺陷检测方法、装置、设备和存储介质 [P].

刘自强 .

中国专利 :CN115509906B ,2025-10-28

[2]

软件缺陷检测模型解释方法、装置、设备及存储介质 [P].

朱志玲 ;

王炜 ;

郭星成 ;

范启强 .

中国专利 :CN116187452B ,2025-09-02

[3]

软件缺陷测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

秦军 .

中国专利 :CN114185806A ,2022-03-15

[4]

针对电力数字系统的软件缺陷检测方法、装置和存储介质 [P].

赵晓玮 ;

梁志宏 ;

杨祎巍 ;

索思亮 ;

蒋屹新 ;

陈立明 ;

徐培明 ;

黄开天 ;

徐文倩 .

中国专利 :CN119441004A ,2025-02-14

[5]

软件缺陷分级方法、装置、设备及存储介质 [P].

阮绍臣 ;

王欣 ;

李佩刚 ;

苏畅 ;

周荣林 ;

高建瓴 ;

王成 ;

马骁雄 .

中国专利 :CN113312269A ,2021-08-27

[6]

针对电力数字系统的软件缺陷检测方法、装置和存储介质 [P].

赵晓玮 ;

梁志宏 ;

杨祎巍 ;

索思亮 ;

蒋屹新 ;

陈立明 ;

徐培明 ;

黄开天 ;

徐文倩 .

中国专利 :CN119441004B ,2025-10-14

[7]

软件缺陷的检测方法、装置、设备及计算机存储介质 [P].

李怡峥 ;

肖淞 ;

李宝剑 ;

赵欣 ;

王煜清 ;

谭兴丽 ;

陆洋 ;

明杰 .

中国专利 :CN118820061A ,2024-10-22

[8]

软件缺陷分级方法、装置、设备及存储介质 [P].

阮绍臣 ;

王欣 ;

李佩刚 ;

苏畅 ;

周荣林 ;

高建瓴 ;

王成 ;

马骁雄 .

中国专利 :CN113312269B ,2024-07-09

[9]

软件缺陷预测方法及相关装置、设备和存储介质 [P].

郑垚 ;

倪佳伟 .

中国专利 :CN120994559A ,2025-11-21

[10]

一种软件缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

李隆 ;

朱庆 ;

赖建新 ;

李世杰 .

中国专利 :CN111026663A ,2020-04-17

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