软件缺陷检测模型解释方法、装置、设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202310217413.4
申请日
2023-03-08
公开(公告)号
CN116187452B
公开(公告)日
2025-09-02
发明(设计)人
朱志玲 王炜 郭星成 范启强
申请人
云南大学
申请人地址
650000 云南省昆明市呈贡区大学城东外环南路云南大学呈贡校区
IPC主分类号
G06N5/04
IPC分类号
G06F18/214 G06N3/0464 G06N3/096 G06N5/01
代理机构
昆明盈正知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 53208
代理人
徐洪刚
法律状态
授权
国省代码
云南省 昆明市
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
软件缺陷检测方法、装置、设备和存储介质 [P]. 
刘自强 .
中国专利 :CN115509906B ,2025-10-28
[2]
软件缺陷检测方法、装置、设备和存储介质 [P]. 
刘自强 .
中国专利 :CN115509906A ,2022-12-23
[3]
软件缺陷测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
秦军 .
中国专利 :CN114185806A ,2022-03-15
[4]
软件缺陷分级方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
阮绍臣 ;
王欣 ;
李佩刚 ;
苏畅 ;
周荣林 ;
高建瓴 ;
王成 ;
马骁雄 .
中国专利 :CN113312269A ,2021-08-27
[5]
软件缺陷分级方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
阮绍臣 ;
王欣 ;
李佩刚 ;
苏畅 ;
周荣林 ;
高建瓴 ;
王成 ;
马骁雄 .
中国专利 :CN113312269B ,2024-07-09
[6]
软件缺陷的检测方法、装置、设备及计算机存储介质 [P]. 
李怡峥 ;
肖淞 ;
李宝剑 ;
赵欣 ;
王煜清 ;
谭兴丽 ;
陆洋 ;
明杰 .
中国专利 :CN118820061A ,2024-10-22
[7]
软件缺陷概率的确定方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
黄翔 ;
王欣 ;
苏畅 ;
徐伟 .
中国专利 :CN115509927A ,2022-12-23
[8]
软件缺陷预测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
杨晓杏 ;
梁立新 ;
李艺鸿 .
中国专利 :CN113656284A ,2021-11-16
[9]
软件缺陷概率的确定方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
黄翔 ;
王欣 ;
苏畅 ;
徐伟 .
中国专利 :CN115509927B ,2025-12-05
[10]
软件缺陷预测模型训练及软件缺陷预测方法、设备、介质及程序 [P]. 
刘文杰 .
中国专利 :CN120492307A ,2025-08-15