软件缺陷概率的确定方法、装置、设备及存储介质

被引：0

申请号：

CN202211232887.8

申请日：

2022-10-10

公开(公告)号：

CN115509927A

公开(公告)日：

2022-12-23

发明(设计)人：

黄翔王欣苏畅徐伟

申请人：

申请人地址：

100005 北京市东城区建国门内大街69号

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

G06N304 G06N308

代理机构：

北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205

代理人：

蔡维华;黄健

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-12-23	公开	公开
2023-01-10	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20221010

共 50 条

[1]

软件缺陷概率的确定方法、装置、设备及存储介质 [P].

黄翔 ;

王欣 ;

苏畅 ;

徐伟 .

中国专利 :CN115509927B ,2025-12-05

[2]

新增软件缺陷的确定方法、装置、设备及存储介质 [P].

刘鹏 .

中国专利 :CN113448825A ,2021-09-28

[3]

一种软件缺陷预测方法、装置、设备及存储介质 [P].

徐奔 .

中国专利 :CN111290967A ,2020-06-16

[4]

软件缺陷测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

秦军 .

中国专利 :CN114185806A ,2022-03-15

[5]

软件缺陷分级方法、装置、设备及存储介质 [P].

阮绍臣 ;

王欣 ;

李佩刚 ;

苏畅 ;

周荣林 ;

高建瓴 ;

王成 ;

马骁雄 .

中国专利 :CN113312269A ,2021-08-27

[6]

软件缺陷分级方法、装置、设备及存储介质 [P].

阮绍臣 ;

王欣 ;

李佩刚 ;

苏畅 ;

周荣林 ;

高建瓴 ;

王成 ;

马骁雄 .

中国专利 :CN113312269B ,2024-07-09

[7]

软件缺陷定位方法、装置、设备、存储介质及程序产品 [P].

蒋超群 ;

夏振华 ;

刘力华 ;

严倩羽 ;

潘庆 .

中国专利 :CN119441012B ,2025-07-22

[8]

软件缺陷检测模型解释方法、装置、设备及存储介质 [P].

朱志玲 ;

王炜 ;

郭星成 ;

范启强 .

中国专利 :CN116187452B ,2025-09-02

[9]

软件缺陷定位方法、装置、设备、存储介质及程序产品 [P].

蒋超群 ;

夏振华 ;

刘力华 ;

严倩羽 ;

潘庆 .

中国专利 :CN119441012A ,2025-02-14

[10]

软件缺陷预测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

杨晓杏 ;

梁立新 ;

李艺鸿 .

中国专利 :CN113656284A ,2021-11-16

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