软件缺陷分级方法、装置、设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202110705821.5
申请日
2021-06-24
公开(公告)号
CN113312269A
公开(公告)日
2021-08-27
发明(设计)人
阮绍臣 王欣 李佩刚 苏畅 周荣林 高建瓴 王成 马骁雄
申请人
申请人地址
100005 北京市东城区建国门内大街69号
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
G06F871
代理机构
北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205
代理人
张娜;黄健
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
软件缺陷分级方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
阮绍臣 ;
王欣 ;
李佩刚 ;
苏畅 ;
周荣林 ;
高建瓴 ;
王成 ;
马骁雄 .
中国专利 :CN113312269B ,2024-07-09
[2]
软件缺陷测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
秦军 .
中国专利 :CN114185806A ,2022-03-15
[3]
一种软件缺陷预测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
冯瑶 .
中国专利 :CN114443490A ,2022-05-06
[4]
一种软件缺陷预测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
陈金龙 .
中国专利 :CN111078544B ,2020-04-28
[5]
一种软件缺陷预测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
徐奔 .
中国专利 :CN111290967A ,2020-06-16
[6]
软件缺陷检测方法、装置、设备和存储介质 [P]. 
刘自强 .
中国专利 :CN115509906B ,2025-10-28
[7]
软件缺陷检测方法、装置、设备和存储介质 [P]. 
刘自强 .
中国专利 :CN115509906A ,2022-12-23
[8]
软件缺陷定位方法、装置、设备、存储介质及程序产品 [P]. 
蒋超群 ;
夏振华 ;
刘力华 ;
严倩羽 ;
潘庆 .
中国专利 :CN119441012B ,2025-07-22
[9]
软件缺陷检测模型解释方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
朱志玲 ;
王炜 ;
郭星成 ;
范启强 .
中国专利 :CN116187452B ,2025-09-02
[10]
软件缺陷预测方法及相关装置、设备和存储介质 [P]. 
郑垚 ;
倪佳伟 .
中国专利 :CN120994559A ,2025-11-21