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射频裸晶片测试系统和测试方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202111495073.9
申请日：
2021-12-09
公开(公告)号：
CN113903675A
公开(公告)日：
2022-01-07
发明(设计)人：
倪卫华
郑朝晖
申请人：
申请人地址：
324199 浙江省衢州市江山市文教西路15号科技孵化中心5楼
IPC主分类号：
H01L2166
IPC分类号：
G01R104
G01R3126
代理机构：
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463
代理人：
刘桐亚
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-02-18 | 授权 | 授权 |
| 2022-07-19 | 专利权人的姓名或者名称、地址的变更 | 专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):H01L 21/66 变更事项:专利权人 变更前:江山季丰电子科技有限公司 变更后:江山季丰电子科技有限公司 变更事项:地址 变更前:324199 浙江省衢州市江山市文教西路15号科技孵化中心5楼 变更后:324199 浙江省衢州市江山市双塔街道文教西路15号 变更事项:专利权人 变更前:上海季丰电子股份有限公司 变更后:上海季丰电子股份有限公司 |
| 2022-01-07 | 公开 | 公开 |
| 2022-01-25 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/66 申请日:20211209 |