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晶片测试板、晶片测试系统和晶片测试方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202111224584.7
申请日：
2021-10-21
公开(公告)号：
CN113687206A
公开(公告)日：
2021-11-23
发明(设计)人：
蔡水河
赖政忠
申请人：
申请人地址：
213000 江苏省常州市武进区潞横路2288号
IPC主分类号：
G01R3126
IPC分类号：
G01R102
H01L2166
代理机构：
常州至善至诚专利代理事务所(普通合伙) 32409
代理人：
朱丽莎
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-01-04 | 授权 | 授权 |
| 2021-12-10 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/26 申请日:20211021 |
| 2021-11-23 | 公开 | 公开 |