晶片测试设备

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN02243055.5

申请日：

2002-07-30

公开(公告)号：

CN2570976Y

公开(公告)日：

2003-09-03

发明(设计)人：

卢镜来

申请人：

申请人地址：

台湾省高雄县

IPC主分类号：

H01L2166

IPC分类号：

代理机构：

北京三友知识产权代理有限公司

代理人：

史欣耕

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2003-09-03	授权	授权
2012-09-19	专利权的终止	专利权有效期届满号牌文件类型代码:1611 号牌文件序号:101326755632 IPC(主分类):H01L 21/66 专利号:ZL022430555 申请日:20020730 授权公告日:20030903 期满终止日期:20120730

共 50 条

[1]

晶片测试机 [P].

卢镜来 .

中国专利 :CN2572557Y ,2003-09-10

[2]

晶片测试机 [P].

卢镜来 .

中国专利 :CN2566452Y ,2003-08-13

[3]

晶片测试板、晶片测试系统和晶片测试方法 [P].

蔡水河 ;

赖政忠 .

中国专利 :CN113687206A ,2021-11-23

[4]

晶片测试探头 [P].

彭铁坤 ;

黄永诗 ;

刘薇 ;

邹雄辉 ;

李锡光 .

中国专利 :CN222800811U ,2025-04-25

[5]

晶片测试治具 [P].

朱旭昱 .

中国专利 :CN2541852Y ,2003-03-26

[6]

晶片测试台 [P].

胡德良 ;

沈彪 ;

张正栋 ;

陈浩 .

中国专利 :CN201387464Y ,2010-01-20

[7]

晶片测试样品 [P].

王潇 ;

郭炜 ;

孙涛 .

中国专利 :CN204271065U ,2015-04-15

[8]

晶片测试机及晶片测试方法 [P].

温进光 .

中国专利 :CN101661077B ,2010-03-03

[9]

晶片测试系统 [P].

孙倩 ;

陈伟钿 ;

李浩南 .

中国专利 :CN211043582U ,2020-07-17

[10]

晶片测试方法 [P].

谢晋春 ;

辛吉升 ;

杜发魁 ;

桑浚之 ;

陈凯华 ;

陈婷 .

中国专利 :CN101169461A ,2008-04-30

← 1 2 3 4 5 →