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晶片测试系统及方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201910988438.8
申请日：
2019-10-17
公开(公告)号：
CN112444727A
公开(公告)日：
2021-03-05
发明(设计)人：
孙倩
陈伟钿
李浩南
申请人：
申请人地址：
201302 上海市浦东新区南汇新城镇环湖西二路888号C楼
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
代理机构：
深圳市六加知识产权代理有限公司 44372
代理人：
王媛
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2021-03-23 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20191017 |
| 2021-03-05 | 公开 | 公开 |