一种晶片测试卡的过电流保护方法及相应的晶片测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200610116169.9

申请日：

2006-09-18

公开(公告)号：

CN101149392A

公开(公告)日：

2008-03-26

发明(设计)人：

常建光

申请人：

申请人地址：

201203上海市张江路18号

IPC主分类号：

G01R102

IPC分类号：

G01R1073 G01R1067 G01R3100 G01R3126 G01R3128 H01L2166

代理机构：

上海智信专利代理有限公司

代理人：

王洁

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2008-05-21	实质审查的生效	实质审查的生效
2012-01-11	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101260718595 IPC(主分类):G01R 1/02 专利申请号:2006101161699 公开日:20080326
2008-03-26	公开	公开

共 50 条

[1]

晶片测试板、晶片测试系统和晶片测试方法 [P].

蔡水河 ;

赖政忠 .

中国专利 :CN113687206A ,2021-11-23

[2]

一种晶片测试系统及测试方法 [P].

孙进军 ;

周毅 ;

贾金辉 ;

陈冬冬 .

中国专利 :CN106057695A ,2016-10-26

[3]

测试路径选择方法及相应的晶片测试方法 [P].

蒋登峰 .

中国专利 :CN103344896A ,2013-10-09

[4]

晶片测试系统及方法 [P].

孙倩 ;

陈伟钿 ;

李浩南 .

中国专利 :CN112444727A ,2021-03-05

[5]

晶片测试机及晶片测试方法 [P].

温进光 .

中国专利 :CN101661077B ,2010-03-03

[6]

IGBT动态测试的过电流保护电路及IGBT动态测试系统 [P].

袁涛 ;

余伟 ;

史慧敏 ;

孙波艳 ;

郑宇 ;

熊强 ;

谭旻 ;

凌浪波 ;

刘敏安 ;

任亚东 ;

罗海辉 .

中国专利 :CN114019341A ,2022-02-08

[7]

IGBT动态测试的过电流保护电路及IGBT动态测试系统 [P].

袁涛 ;

余伟 ;

史慧敏 ;

孙波艳 ;

郑宇 ;

熊强 ;

谭旻 ;

凌浪波 ;

刘敏安 ;

任亚东 ;

罗海辉 .

中国专利 :CN114019341B ,2025-05-27

[8]

测试晶片的方法及测试结构 [P].

黄艳 .

中国专利 :CN101819940A ,2010-09-01

[9]

一种防止手机测试中过电流破坏的系统及方法 [P].

余国吉 .

中国专利 :CN101626586A ,2010-01-13

[10]

短时间完成晶片测试的晶片测试的方法 [P].

前田哲典 .

中国专利 :CN1206114A ,1999-01-27

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