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一种晶片测试系统及测试方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201610420914.2
申请日：
2016-06-14
公开(公告)号：
CN106057695A
公开(公告)日：
2016-10-26
发明(设计)人：
孙进军
周毅
贾金辉
陈冬冬
申请人：
申请人地址：
214122 江苏省无锡市滨湖区锦溪路100号创业园9号楼501
IPC主分类号：
H01L2166
IPC分类号：
代理机构：
西安利泽明知识产权代理有限公司 61222
代理人：
贾晓玲
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2016-10-26 | 公开 | 公开 |
| 2016-11-23 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101688764440 IPC(主分类):H01L 21/66 专利申请号:2016104209142 申请日:20160614 |
| 2021-04-27 | 专利申请权、专利权的转移 | 专利权的转移 IPC(主分类):H01L 21/66 登记生效日:20210414 变更事项:专利权人 变更前权利人:苏州微控智芯半导体科技有限公司 变更后权利人:西安航天民芯科技有限公司 变更事项:地址 变更前权利人:214122 江苏省无锡市滨湖区锦溪路100号创业园9号楼501 变更后权利人:710000 陕西省西安市高新区锦业路70号卫星大厦5层 |
| 2019-09-20 | 授权 | 授权 |