一种探针塔、晶片测试承座与晶片测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200710184808.X

申请日：

2007-10-29

公开(公告)号：

CN101424705B

公开(公告)日：

2009-05-06

发明(设计)人：

林源记黎孟达

申请人：

申请人地址：

中国台湾新竹市

IPC主分类号：

G01R1073

IPC分类号：

G01R3100 G01R3126 G01R3128

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司 11021

代理人：

汤保平

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2009-05-06	公开	公开
2010-09-29	授权	授权
2009-07-01	实质审查的生效	实质审查的生效

共 50 条

[1]

晶片测试板、晶片测试系统和晶片测试方法 [P].

蔡水河 ;

赖政忠 .

中国专利 :CN113687206A ,2021-11-23

[2]

测试讯号隔离探针座和电路晶片测试组件 [P].

洪敬文 .

中国专利 :CN212872763U ,2021-04-02

[3]

探针晶片、探针装置以及测试系统 [P].

甲元芳雄 ;

梅村芳春 .

中国专利 :CN101946313B ,2011-01-12

[4]

探针晶片、探针装置以及测试系统 [P].

甲元芳雄 ;

梅村芳春 .

中国专利 :CN101978485B ,2011-02-16

[5]

晶片测试系统 [P].

孙倩 ;

陈伟钿 ;

李浩南 .

中国专利 :CN211043582U ,2020-07-17

[6]

一种晶片测试系统及测试方法 [P].

孙进军 ;

周毅 ;

贾金辉 ;

陈冬冬 .

中国专利 :CN106057695A ,2016-10-26

[7]

具自动回复功能的晶片测试装置与晶片测试方法 [P].

吴秋萍 ;

林修民 .

中国专利 :CN100372094C ,2006-05-03

[8]

一种硅晶片测试探针台 [P].

杨柳 ;

张会战 ;

袁刚 ;

曾德杰 .

中国专利 :CN106526443A ,2017-03-22

[9]

射频裸晶片测试系统和测试方法 [P].

倪卫华 ;

郑朝晖 .

中国专利 :CN113903675A ,2022-01-07

[10]

一种晶片测试卡的过电流保护方法及相应的晶片测试系统 [P].

常建光 .

中国专利 :CN101149392A ,2008-03-26

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