测试系统及测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510385272.2

申请日：

2015-07-03

公开(公告)号：

CN106331693A

公开(公告)日：

2017-01-11

发明(设计)人：

蔡逸杰

申请人：

申请人地址：

中国台湾新北市五股区五工六路25号

IPC主分类号：

H04N1700

IPC分类号：

代理机构：

北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435

代理人：

孟阿妮;郭栋梁

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-06-19	授权	授权
2017-04-12	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101712786004 IPC(主分类):H04N 17/00 专利申请号:2015103852722 申请日:20150703
2017-01-11	公开	公开
2020-06-23	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H04N 17/00 申请日:20150703 授权公告日:20180619 终止日期:20190703

共 50 条

[1]

测试系统及测试方法 [P].

赵剑 ;

郑有贊 ;

李环宇 .

中国专利 :CN104777636B ,2015-07-15

[2]

测试电路、探针卡、测试系统及测试方法 [P].

魏斯默 ;

杨峰 .

中国专利 :CN117706144A ,2024-03-15

[3]

电路测试系统及电路测试方法 [P].

陈莹晏 ;

许烱发 ;

杨嘉瑞 ;

陈柏霖 .

中国专利 :CN111443275B ,2020-07-24

[4]

电路测试系统及电路测试方法 [P].

陈莹晏 ;

许烱发 ;

杨嘉瑞 ;

陈柏霖 .

中国专利 :CN111443274B ,2020-07-24

[5]

测试系统及方法 [P].

陈志丰 ;

林辉 .

中国专利 :CN101118510A ,2008-02-06

[6]

测试系统及测试方法 [P].

周云 ;

杜丹 ;

张春林 ;

路瑜亮 ;

梁洪泉 ;

代刚 ;

杨万君 ;

王凯 ;

胡亚飞 .

中国专利 :CN112104526A ,2020-12-18

[7]

测试方法及测试系统 [P].

崔俊健 ;

王安民 .

中国专利 :CN109991496B ,2019-07-09

[8]

测试方法及测试系统 [P].

潘鑫 .

中国专利 :CN115664560A ,2023-01-31

[9]

测试系统及测试方法 [P].

罗继阳 ;

张培 ;

马长安 .

中国专利 :CN104090185A ,2014-10-08

[10]

测试方法及测试系统 [P].

孙圆圆 ;

王佳 .

中国专利 :CN115910179B ,2025-05-27

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