超声C扫描检测分辨力的计算方法、测量装置和测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011349862.7

申请日：

2020-11-26

公开(公告)号：

CN112578024B

公开(公告)日：

2021-03-30

发明(设计)人：

徐春广马朋志肖定国潘勤学杨博

申请人：

申请人地址：

100081 北京市海淀区中关村南大街5号

IPC主分类号：

G01N2906

IPC分类号：

G01N2930

代理机构：

北京华夏正合知识产权代理事务所(普通合伙) 11017

代理人：

韩登营

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-04-16	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 29/06 申请日:20201126
2022-01-25	授权	授权
2021-03-30	公开	公开

共 50 条

[1]

微光ICCD分辨力测量装置及测量方法 [P].

史继芳 ;

解琪 ;

王生云 ;

孙宇楠 ;

李琪 ;

李宏光 ;

曹锋 ;

王乐 ;

张博妮 .

中国专利 :CN105973570A ,2016-09-28

[2]

特征分辨力快速测量方法 [P].

王挺 ;

关圣威 .

中国专利 :CN104598930A ,2015-05-06

[3]

一种机床测量系统的分辨力测量方法 [P].

熊航 ;

王灿 ;

徐延豪 ;

刘静 ;

马飞 ;

孟云 ;

武琼 .

中国专利 :CN114178904B ,2022-03-15

[4]

EBCMOS分辨力参数的测量装置 [P].

赵卫 ;

李永贤 ;

朱香平 ;

韦永林 .

中国专利 :CN112763189A ,2021-05-07

[5]

同步扫描条纹相机时间分辨力测量装置及方法 [P].

陈永权 ;

段亚轩 ;

赵建科 ;

李坤 ;

聂申 ;

宋琦 .

中国专利 :CN106644408B ,2017-05-10

[6]

一种宽量程高分辨力形变测量方法和装置 [P].

吴思进 ;

张硕 ;

陈朝阳 ;

唐小军 ;

辛亮 ;

孙子杰 ;

吴云飞 .

中国专利 :CN120333328A ,2025-07-18

[7]

一种便携式像增强器分辨力测量装置及测量方法 [P].

李晓峰 ;

杜木林 ;

冯辉 ;

徐传平 ;

陈俊宇 .

中国专利 :CN113686551A ,2021-11-23

[8]

超声衰减系统的测量方法和测量装置 [P].

张书增 ;

张广栋 ;

戴昭杰 ;

李雄兵 .

中国专利 :CN110726774B ,2020-01-24

[9]

同步扫描条纹相机时间分辨力测量装置 [P].

陈永权 ;

段亚轩 ;

赵建科 ;

李坤 ;

聂申 ;

宋琦 .

中国专利 :CN206362531U ,2017-07-28

[10]

图案测量装置、倾斜度计算方法和图案测量方法 [P].

藤原慎 ;

尾上幸太朗 .

中国专利 :CN112129218A ,2020-12-25

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