微光ICCD分辨力测量装置及测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201610268331.2

申请日：

2016-04-27

公开(公告)号：

CN105973570A

公开(公告)日：

2016-09-28

发明(设计)人：

史继芳解琪王生云孙宇楠李琪李宏光曹锋王乐张博妮

申请人：

申请人地址：

710065 陕西省西安市雁塔区电子三路西段九号

IPC主分类号：

G01M1102

IPC分类号：

代理机构：

西北工业大学专利中心 61204

代理人：

陈星

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-07-31	授权	授权
2016-10-26	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101684679607 IPC(主分类):G01M 11/02 专利申请号:2016102683312 申请日:20160427
2016-09-28	公开	公开

共 50 条

[1]

特征分辨力快速测量方法 [P].

王挺 ;

关圣威 .

中国专利 :CN104598930A ,2015-05-06

[2]

EBCMOS分辨力参数的测量装置 [P].

赵卫 ;

李永贤 ;

朱香平 ;

韦永林 .

中国专利 :CN112763189A ,2021-05-07

[3]

一种机床测量系统的分辨力测量方法 [P].

熊航 ;

王灿 ;

徐延豪 ;

刘静 ;

马飞 ;

孟云 ;

武琼 .

中国专利 :CN114178904B ,2022-03-15

[4]

超声C扫描检测分辨力的计算方法、测量装置和测量方法 [P].

徐春广 ;

马朋志 ;

肖定国 ;

潘勤学 ;

杨博 .

中国专利 :CN112578024B ,2021-03-30

[5]

一种便携式像增强器分辨力测量装置及测量方法 [P].

李晓峰 ;

杜木林 ;

冯辉 ;

徐传平 ;

陈俊宇 .

中国专利 :CN113686551A ,2021-11-23

[6]

三代微光像增强器分辨力评价方法 [P].

史继芳 ;

韩占锁 ;

杨斌 ;

李宏光 ;

吉晓 ;

孙宇楠 .

中国专利 :CN102353519B ,2012-02-15

[7]

时间分辨光谱的测量方法及测量装置 [P].

黄世华 ;

梁春军 ;

崔尚科 .

中国专利 :CN1587929A ,2005-03-02

[8]

电池膨胀力测量装置及测量方法 [P].

王杰 ;

陈春安 ;

曲伟 .

中国专利 :CN111446510A ,2020-07-24

[9]

转子轴向力测量装置及测量方法 [P].

边杰 ;

张春月 ;

王平 ;

陈亚农 ;

梅庆 ;

徐友良 ;

唐广 ;

林利胜 .

中国专利 :CN107202663A ,2017-09-26

[10]

高分辨力立体视觉系统与测量方法 [P].

刘俭 ;

李勇 ;

王伟波 ;

赵一轩 .

中国专利 :CN109470146A ,2019-03-15

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